主题:controlSUITE中讨论的其他部件
尊敬的团队:
我的客户使用片上ADC1和ADC2进行采样测试,具有以下设置:
使用controlSUITE中的例程,修改为:
ADC1的输入端口是ADC1INB0
ADC2的输入端口是ADC2INB1
测试发现ADC1和ADC2采样的值都小于理论值,但ADC2的值在数量上较小。

问题的原因是什么?
此致,
绿色
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尊敬的团队:
我的客户使用片上ADC1和ADC2进行采样测试,具有以下设置:
使用controlSUITE中的例程,修改为:
ADC1的输入端口是ADC1INB0
ADC2的输入端口是ADC2INB1
测试发现ADC1和ADC2采样的值都小于理论值,但ADC2的值在数量上较小。

问题的原因是什么?
此致,
绿色
绿色,
由于我们观察到的错误是根据输入电压进行缩放,因此这是增益误差的原因,如下所示。 请注意,满刻度的温度规格是+/-60LSB,客户观察到的温度比两个ADC (分别为-15LSB和-7LSB)都低得多。 这里也可能有一些偏移分量...
如果我对每个ADC使用2pt公式,我会得到以下信息:
ADC1增益错误为0.995 % 或-20LSB 偏移错误= 3LSB
ADC2增益错误为0.996 % 或-16LSB 偏移错误=-1LSB
所以,我想说这些读数在DS的规格范围内,这种变化是正常的。
在ADC之间的差异方面,还存在增益和+/-4LSB偏移的ch/ch变化规范,这也符合。
我们能够让客户通过与VREFLE的内部连接自行校准偏移。 由于这对于两个ADC都是相同的,因此除了本地偏移外,客户还可以使用它来减少ADC与ADC的偏移。
对于局部或ADC之间的增益错误,如果客户可以对两个ADC都有共同的参考,他们可以通过数学方法消除增益错误,或者至少消除ADC POST结果之间的增量。

最佳,
Matthew