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[参考译文] TMS320F28027F:观察大规模生产中的 ESD 损坏

Guru**** 2927270 points

Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28027F

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1015275/tms320f28027f-observations-esd-damage-in-mass-production

器件型号:TMS320F28027F

大家好!

你好。

我们在    产品中使用 TMS320F28027F。

在大规模生产中,由于 ESD 损坏( 在制造之前可能会受到 ESD 损坏),我们有时会在2 ~10个月后生产失败,我们希望确保电路板中的所有 MCU 或 DSP 都正常。

解决方案是什么?

问题1:我提出的一些问题是 SEM (扫描电子显微镜),这是在制造产品之前由 SEM 对所有 MCU 或 DSP 进行测试的好方法吗?

问题2:是否有任何其他方法可以确保我们的所有产品都正常且没有 ESD 损坏?

感谢您的关注

Dave。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Dave、

                 这是一个非常难回答的问题、没有更多细节。 我假设 ESD 损坏发生在生产过程中。 如果是、您需要了解生产环境中的 ESD 处理/预防措施。 这不是 TI 可以为您提供帮助的领域。  

    如果在测试电路板时发生 ESD 损坏、则解决方案需要强化电路设计以使其不受 ESD 影响。 挑战在于准确确定干扰如何影响电路。 即确定 ESD 如何耦合到电路中。 换言之、它进入电路并造成损坏的导管是什么。 一旦确定了这一点、就可以相对轻松地找到保护解决方案。  ESD 保护二极管是一个选项。 遗憾的是、通常情况下、在电路板制作完成后会发现缺陷、因此需要重新设计电路板。  

    许多关于这一主题的书籍和许多论文都已出版。 实际电路设计、使用的组件、组件的几何形状、电路板布局、电路板堆叠、所采用的屏蔽都在设计的抗扰度中起着作用。 调试此类问题是一个迭代过程、需要进行手动调试。 远程调试此类问题非常困难。  

    问题1:SEM 在这里不会有太多用处。 使用 SEM (或类似的显微镜)进行分析是事后进行的。 您需要做的是准确确定 ESD 损坏的发生方式。  

    问题2:您需要依赖生产后测试。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢尊敬的  Janakiraman 提供的帮助。

    Dave。