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[参考译文] SM320F28335-EP：SM320F28335-EP ADC 误差校准

admin
Guru**** 2535750 points
Other Parts Discussed in Thread: SM320F28335-EP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/968772/sm320f28335-ep-sm320f28335-ep-adc-error-calibration

器件型号：SM320F28335-EP

如果使用 SM320F28335-EP

我们如何使用内部软件提高 ADC 性能。 是否可以使用软件减少错误？

2.校准过程可以是什么？

3.如果使用内部基准进行校准，可以提高多少性能？

4.如果使用外部基准、误差将如何受到影响？ 校准后，预期误差是多少？ 您能否使用 Boot-ROM、外部基准和内部基准提供校准后减少错误的数据？

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    TI__Guru**** 2535750 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您访问 C2000 E2E 论坛。

    我将阐明 ADC 校准的不同方面以及以下参考文献：

    1) TI OTP 内作为器件初始化一部分完成的 ADC 校准：

    为了实现 F28335数据表中列出的增益和偏移误差(以及总体 ADC 质量)的 ADC 规格、需要运行此参数。 此函数调用包含在我们的所有 C 示例中、也是 DEVICE_INIT 函数的一部分。

    2)这个器件有一个内部 BG 基准、此基准将满足针对它列出的 DS 规格。  还可以选择在 ADCREFIN 引脚上提供外部基准电压。  这具有比内部基准更好的温度系数的潜在优势、但这将取决于其特性

    3)额外/外部校准： 可通过执行此操作来降低 ADC 增益/偏移的温度变化。  我建议查看有关 ADC 校准 的应用手册。  虽然这涉及 F2808器件、但它也适用于 SM320F28335-EP 器件。

    请告诉我这是否会清除问题。

    最棒的

    Matthew