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[参考译文] TMDSHVMTRPFCKIT:无法连接到 PC

Guru**** 1828310 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSCNCD28035, CONTROLSUITE
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/987990/tmdshvmtrpfckit-can-not-connect-to-pc

器件型号:TMDSHVMTRPFCKIT
主题中讨论的其他器件: TMDSCNCD28035、controlSUITE

尊敬的团队:

我的客户上周购买 了 TMDSHVMTRPFCKIT。  该套件当前未连接到电机、并且未向套件的[Main]-P1供电。

客户通过[M6]-JP1为控制板 TMDSCNCD28035供电、控制板 LD1一直打开、LD3闪烁、[M3]-JP1 USB 端口被连接至计算机。

客户在 C:\ti\controlSUITE\development_kits\HVMotorCtrl+PfcKit_v2.1\~GUI 中打开了 HVMTRPFCKIT-PM-ACI-GUI.exe、但发现设置后无法连接。

设备管理器中没有 XDS 的 AB 通道、但可以在端口中看到 XDS100设备

在客户进入 CCS10.1后、尝试检查 JTAG 情况并进行调试、配置目标配置、并且在测试连接:期间出现以下消息

[开始:德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]

执行以下命令:

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C:\Users\admini~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs1010\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2020年11月8日"。
库构建时间为'17:25:15'。
库软件包版本为'9.2.0.1.00042'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束:德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]

请帮助。