[参考译文] TMS320F28335：关于检测非常规浮点值(+INF、-INF...)的最有效方法(技术)的建议 变量(信号、参数等)

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1010600/tms320f28335-recommendation-for-the-most-efficient-method-technique-to-detect-non-regular-floating-point-values-inf--inf-of-variables-signals-parameters-etc

尊敬的 TI 团队：

我在这里重复了我的 F28388D 查询的一部分、只是 将其移至 E2E 设计支持论坛的相应(C2000系列 MCU...F28335)子部分、尽管它也可以发布在其他论坛中(例如、与 单精度 FP 值相关的问题场景可以发布在 两个论坛上： F2837x 和 F2838x 系列 MCU、而 采用 双精度 FP 值的问题场景变体也可以针对 F2838x 系列 MCU 进行标记。  

问题实际上与关于检测非常规浮点值(+INF、-INF...)的最有效方法/技术的建议/建议有关 变量/信号。

实际上、我想监控几个变量并激活内部信号记录器、 以确定 可能 导致此类非正规 FP 值的情况。 这种情况并不重要(例如零分频误差)、但可能是递归控制算法"无限"执行次数或类似情况(非常赞赏要考虑的任何其他想法)的结果。  

此问题 (检测+INF、-INF 等非常规单精度 FP 值)和生成相应的逻辑信号(例如激活内部记录器)对于根据 F28335 MCU 芯片及其应用来检测其中一个控制设计项目的问题而言、目前极其重要。

是否有可能会 有一个特殊的 F28335汇编器指令/函数(或任何其他权变措施)来解决此问题？

此致

Nenad