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您好专家、
我正在 C28x 中集成 TI 的 STL 库 、并经历了以下体验:
-我通过将编译选项更改为-abi-coffabi (两次发生)并将下划线置于:._C28x_STL_LIB_ASM_copyTestGroup、 _C28x_STL_LIB_runTestGroup、 _C28x_STL_BIB_ASM_BIST_INITGroup0来构建和调试 COFF 库。
-I 将库与 sta_tests API 和 sta_F28004x_RAM_C28x_STL_test_Group.cmd 集成到我的应用程序中。
-当我在 CCS 上运行代码时、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000、因此只有否定测试成功。
我还使用 C28x_STL 库上提供的应用示例尝试了生成的 COFF 库。 为此、我还修改了应用程序的.projectspec 并由于 COFFEABI 格式而在所需变量(例如_tg00LoadEnd、_RamfuncsLoadStart 等)上放置了下划线。
-当我使用 RAM 选项进行编译时,测试工作正常,所有测试均通过。
-当我使用闪存选项进行编译时、测试失败、并且行为与我的应用程序中的相同、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000。
我还发现了以下评论:"C28x_STL:当 STA 在没有库源 的情况下运行并直接链接 C28x_STL_LIB 时、测试组失败"、但不确定它是否适用于我的问题。
由于库是相同的、我假设它可能是与链接器相关的集成问题。 我是否违反了任何规则?
此致;
Marc
尊敬的 Marc:
我们已审查您的帖子并一直在尝试了解该问题。 首先、您能否确认、当您在 EABI 中对 STL 和 STA 使用开箱即用示例而不与您的应用程序进行任何集成时、所有测试都通过了吗? 对于 RAM 和闪存构建都应该是如此。
其次、您能否确认当您转换构建环境以进行 COFF 更新并使用开箱即用的链接器命令文件等时、RAM 和闪存构建都可以正常工作。
如果可能、请在 controlCARD 上验证上述内容。 这将使我们能够清理起始点。
此致、
Krishna
您好、Krishna、
当我在 controlCARD 的 EABI (原始)中运行 C28x_STL 测试应用程序时、我面临相同的问题:
当我使用 RAM 选项进行编译时、测试工作正常、所有测试均通过。
-当我使用闪存选项进行编译时、测试失败、并且行为与我的应用程序中的相同、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000。
当我修改构建以生成 COFF 库时、结果保持不变、RAM 正常、闪存为 NOK。
此致、
Marc
您好 Marc、您的反馈是否基于单独运行 C28x_STL? 谢谢、Krishna
您好、Krishna、
正确。
当我在我的应用程序上运行时、RAM 和闪存测试均未通过。
此致、
Marc
尊敬的 Marc:
我认为、我们首先需要达到独立于应用程序的标准安装的完美效果。 今天我将再收到几块电路板、我将在其他电路板上重复测试、看看我是否可以重复您看到的问题。 标准安装工作完成后、我们将调试您在与应用程序集成时看到的问题。
此致、
Krishna
您好、Krishna、
感谢您的反馈。 我假设我共享的库也适用于您、对吧? 我将等待您的反馈。
此致、
Marc
您好、Marc、我没有收到它...您是在什么时候发送的? 您能否重新发送...谢谢、Krishna