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[参考译文] TMS320F280049:C28x_STL 诊断库集成问题

Guru**** 2224960 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/995933/tms320f280049-c28x_stl-diagnostic-library-integration-questions

器件型号:TMS320F280049

您好专家、

我正在 C28x 中集成 TI 的 STL 库 、并经历了以下体验:

 -我通过将编译选项更改为-abi-coffabi (两次发生)并将下划线置于:._C28x_STL_LIB_ASM_copyTestGroup、  _C28x_STL_LIB_runTestGroup、 _C28x_STL_BIB_ASM_BIST_INITGroup0来构建和调试 COFF 库。

-I 将库与 sta_tests API 和 sta_F28004x_RAM_C28x_STL_test_Group.cmd 集成到我的应用程序中。  

-当我在 CCS 上运行代码时、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000、因此只有否定测试成功。  

我还使用 C28x_STL 库上提供的应用示例尝试了生成的 COFF 库。 为此、我还修改了应用程序的.projectspec 并由于 COFFEABI 格式而在所需变量(例如_tg00LoadEnd、_RamfuncsLoadStart 等)上放置了下划线。

-当我使用 RAM 选项进行编译时,测试工作正常,所有测试均通过。

-当我使用闪存选项进行编译时、测试失败、并且行为与我的应用程序中的相同、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000。

我还发现了以下评论:"C28x_STL:当 STA 在没有库源 的情况下运行并直接链接 C28x_STL_LIB 时、测试组失败"、但不确定它是否适用于我的问题。

由于库是相同的、我假设它可能是与链接器相关的集成问题。 我是否违反了任何规则?

此致;

Marc

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    尊敬的 Marc:  

    我们已审查您的帖子并一直在尝试了解该问题。  首先、您能否确认、当您在 EABI 中对 STL 和 STA 使用开箱即用示例而不与您的应用程序进行任何集成时、所有测试都通过了吗? 对于 RAM 和闪存构建都应该是如此。    

    其次、您能否确认当您转换构建环境以进行 COFF 更新并使用开箱即用的链接器命令文件等时、RAM 和闪存构建都可以正常工作。   

    如果可能、请在 controlCARD 上验证上述内容。  这将使我们能够清理起始点。  

    此致、  

    Krishna  

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    您好、Krishna、

    当我在 controlCARD 的 EABI (原始)中运行 C28x_STL 测试应用程序时、我面临相同的问题:

     当我使用 RAM 选项进行编译时、测试工作正常、所有测试均通过。

    -当我使用闪存选项进行编译时、测试失败、并且行为与我的应用程序中的相同、 dataBusPsaVal 和 addrBusPsaVal 总是返回0x0000。

     当我修改构建以生成 COFF 库时、结果保持不变、RAM 正常、闪存为 NOK。

    此致、

    Marc

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    您好 Marc、您的反馈是否基于单独运行 C28x_STL?  谢谢、Krishna

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    您好、Krishna、

    正确。

    当我在我的应用程序上运行时、RAM 和闪存测试均未通过。

    此致、

    Marc

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    尊敬的 Marc:  

    我认为、我们首先需要达到独立于应用程序的标准安装的完美效果。  今天我将再收到几块电路板、我将在其他电路板上重复测试、看看我是否可以重复您看到的问题。  标准安装工作完成后、我们将调试您在与应用程序集成时看到的问题。  

    此致、  
    Krishna

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    您好、Krishna、

    感谢您的反馈。 我假设我共享的库也适用于您、对吧?  我将等待您的反馈。

    此致、

    Marc

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    您好、Marc、我没有收到它...您是在什么时候发送的?  您能否重新发送...谢谢、Krishna