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[参考译文] TMS320F28388D:闪存编程时间变化

Guru**** 2609955 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28388D

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/992369/tms320f28388d-flash-programming-time-variation

器件型号:TMS320F28388D

您好!

在 TMS320F28388D 数据表的5.8.4闪存参数部分中,有以下表格:

第一行指出、对于128个数据位+ 16个 ECC 位的编程、典型时间为40µs μ s、但最多需要300µs μ s。 由于(1)注释说明程序时间不会随着写入/擦除循环而降低、我假设它会随着温度的升高而降低。 所以我做了这个测试:

  • 在环境温度(20°C)下定期写入7个128个数据位的块、然后在90°C 时定期写入7个128个数据位的块、我通过在写入第一个块之前升高 GPIO 并在写入第七个块之后降低 GPIO 来测量写入时间。

我测量的结果是、在环境温度下写入的值仅比在90°C 下写入的值少6µs μ s 因此、它确实会随着温度而降低、但不会太高。

因此、如果不在温度范围内、也不在擦除/写入循环中、那么闪存上的编程时间会有何降低?

此致、

昆廷

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    Quentin、您好!

    数据表限值基于整个过程、电压和温度范围内的特性。 标称单元通常显示"典型"特性、但也存在影响编程时间的 Si 工艺变化。

    此致、

    Nirav

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    Nirac、

    您是否有关于给定批次的编程时间变化的统计数据或任何其他信息?

    谢谢、

    昆廷

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    Quentin、您好!

    不幸的是,我没有这方面的资料。  

    此致、

    Nirav