尊敬的团队：
美好的一天！
我们的客户 正在尝试在 F2802和 F2806上执行一个无损 RAM 测试
控制器。 这是在加电时以及在 C 运行时间被初始化和调用之前运行的测试。
它们 需要测试 M0、M1和 L0以及 L1 (对于 F2806)存储器。 我们
提出以下问题：
1.是否可以在调用 C 运行时之前插入和调用加电 RAM 测试？ 如果是，我们需要如何以及在何处插入
并调用 RAM 测试代码？ 我们理解这必须在汇编代码中完成。 我们尝试使用中提供的 F2802x 示例应用
C2000MCU_IEC60730库、但当我们尝试构建此示例应用时、我们遇到了许多无法解决的链接错误。
2.除了使用 C2000MCU_IEC60730之外、还有其他方法可以实施 RAM 测试吗？ 您是否能够为自包含 RAM 测试提供示例代码、即不依赖于的代码
C2000MCU_IEC60730库？
3.如果除了使用 C2000MCU_IEC60730库之外没有其他方法、此库当前仅提供要测试的以下 RAM 类型(使用函数 STL_March _test_testSafeRam)：
a. RAM_TYPE_STACK
b. RAM_TYPE_PIE_Vector
c. RAM_TYPE_PSA_CRC
d. RAM_TYPE_BOOT_RSVD
e. RAM_TYPE_PC_TEST_1.
由于这似乎并未完全涵盖 M1、L0和 L1存储器、 因此他们不确定如何使用此函数来满足我们的需求。
4.对于函数 STL_March test_testRam、我们可以指定要测试的 RAM 的起始地址和结束地址(这意味着我们可以测试 M0、M1、L0和 L1)、但是否可以在 C 运行时被初始化和调用之前使用此函数？ 如果是、如何操作？
BR、
Leon.Liu
尊敬的 惠特尼：
感谢你的帮助。
问题2：
我们在项目中包含了上述 asm 文件、并包含以下头文件-STL_TYPE.h、STL_USER_CONFIG.h、STL_SYSTEM_CONFIG.h、
STL_DEVICE.h 我们已经设置了 BUIK_LIB_F2802x 1和 BUIK_LIB_F2806X 0。 我们还修改了 STL_device.h 以包含"DSP280x_Device.h"、而不是"DSP2802x_Device.h"、因为我们没有此文件可用。 当我们尝试构建时、我们遇到错误、并且我已将错误日志与此电子邮件相关联。
BR、
Leon.Liu
