[参考译文] TMDSCNCD28035ISO：阻塞的 ISOCard TMS320F28035

感谢您的回答。

很遗憾、在单击"Connect Target"后、我遇到了相同的错误。

当您连接到 XDS100v1调试探针的 USB 端口时、您是否在 Windows 设备配置中看到此枚举？  您应该会看到2个 XDS100类器件、一个是仿真器、另一个是 UART 通道。

最棒的

Matthew

是的、我可以看到2个器件。

好消息是、我们不必重新编程 FTDI 芯片。

您能否双击您的.ccxml 文件以显示仿真器和目标的设置？

最棒的
Matt

是的、

它如下所示：

让我们尝试2件事：

1)在 CCXML 设置中、在 Basic 选项卡下、让我们将实验板套件中的板/器件类型更改为仅 TMS320F28035器件、然后确保"保存"配置

2)现在、按下"Test Connection"按钮并将该对话框发回此主题、我将查看该主题。

最棒的

Matthew

您好！

这项输出：

[开始：德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]

---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\Midgard\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs901\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"ar 25 2019"。
库构建时间为'17：36：26'。
库软件包版本为'8.1.0.00007'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]

感谢您提供新信息：查看此文档 http://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=ALCbEC2BHQ6M0pTWLeQ69Q__gYkahfz__LATEST 您能告诉我 ISO 卡上的 LED 在通电时的状态吗？  LD1和 LD4是这里的关键。  

如果 LD1未亮起、则表示电路板未通电、因此 MCU 未通电。  如果是、我们将使用原理图 http://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=AH.oRxMsBs9eIsr8KHlKTg__gYkahfz__LATEST 返回到电源域、以更好地了解根本原因。

最棒的

Matthew

所有指示灯均亮起。

LD1、LD4 -绿色、

LD2、LD3 -红色。

卡仍处于"等待模式"。  

当我将卡置于 Get 模式时、LD3不亮。

您能否检查 TP3和 TP4上的电压是多少？

关于接地：

TP3为4.88V

TP4为-0.22V

TP3和 TP4之间的电压为5.11V

您能否在所有 JTAG 连接/电源均已就绪的情况下拍摄并上传控制卡的图片？  我希望确保我们在设计时查看正确的原理图等。  根据报告的问题和我们的调试结果、为了继续有效调试、存在一些不一致的情况。  我认为这将有助于为前进提供最佳指导。

最棒的

Matthew

大家好、这张照片是：

我不确定 E2E 聊天引擎是否具有与正常帖子相同的警报、因此在此处发帖让您知道我使用该工具发回了另一条消息。

最棒的

Matthew