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器件型号：F28M35H52C 您好！
我正在编写 RAM 上各种 ECC 相关错误的测试用例。 首先、我使用的是 RAML1。 我可以看到、一旦关闭测试模式、所有的单个位都会被纠正。 但我看不到 RAMErrRegs 上的错误地址或计数器增量。 此外、我是否应该接收一个单个位错误中断？ 如果是、您能告诉我是否缺少任何重要的初始化步骤？
我在 TRM 上发现了一条注释、提示"调试访问期间(RD/WR)可纠正和不可纠正的错误被屏蔽"。 这是我在纠正单个位错误期间看不到任何寄存器更新的原因吗？
初始化：
…
InitPieVectTable()；
EALLOW；
//PieVectTable.TINT0 =&CPU_timer0_ISR；
PieVectTable.CFLSINGERR =单位 ISR；
PieVectTable.NMI =不正确的 NMIErrorISR (&U)；
PieVectTable.CRAMSINGERR =斜升位错误(ramSingleBitError)；
PieVectTable.ILLEGALISR =&illegalISR；
EDIS；
EALLOW；
NmiIntruptRegs.NMIFLGCLR.ALL = 0xFFFF；
NmiIntertRegs.NMICFG.bit.NMIEN = 1；
EDIS；
//在 PIE 中启用单个位错误：组12中断2
// PieCtrlRegs.PIEIER12.bit.INTx2 = 1；
PieCtrlRegs.PIEIER12.bit.INTx4 = 1；//启用 PIE 组12 INT4 (RAM 单错误)
PieCtrlRegs.PIEACK.all = M_INT12；//启用 PIE 中的嵌套
asm (" NOP")；//等待 PIEACK 退出流水线参考 使用说明勘误表 SPRZ272H
IER |= M_INT12；
//启用全局中断和更高优先级的实时调试事件：
EINT；//启用全局中断 INTM
ERTM；//启用全局实时中断 DBGM
//example_CallFlashAPI()；
RAM_ECCSelftest()；
===========================================================================================================================================
#ifdef __TI_Compiler_version__ #if __TI_Compiler_version__>=15009000 #pragma CODE_SECTION (RAM_ECCSelftest、".TI.ramfunc")； #pragma CODE_SECTION (ramSingleBitError、".TI.ramfunc")； #pragma CODE_SECTION (illegalISR、".TI.ramfunc")； 其他 #pragma CODE_SECTION (RAM_ECCSelftest、"ramfuncs")； #pragma CODE_SECTION (ramSingleBitError、"ramfuncs")； #pragma CODE_SECTION (illegalISR、"ramfunc")； #endif #endif #pragma DATA_SECTION (gRAMTest1L1、"RAMTestL1File")； #pragma DATA_SECTION (gRAMTest2L1、"RAMTestL1File")； volatile UINT32_t gRAMTest1L1； 易失性 uint32_t gRAMTest2L1； uint16_t ramSingleBitErrorISRTaken； void RAM_ECCSelftest (void) ｛ //启用 RAM ECC EALLOW； RAMErrRegs.CCETRES = 4；//错误阈值 RAMErrs.CCEIE.bit.C28CEIE = 1；//当 CCEFLG 标志被置位时、会生成可纠正的错误中断。 EDIS； EALLOW； //通过将所有数据和 ECC/奇偶校验位写为0来初始化 RAM 以进行自检。 RAMRegs.CLxRTESTINIT1.bit.RAMINIT_L1 = 1； //轮询 RINITDONE 寄存器中 RAM 块的 RAMINITDONE 位是否被置位 while (！RAMRegs.CLxRINITDONE.bit.RAMINITDONE_L1)； EDIS； // ECC 错误计数器应为0 if (RAMErrRegs.CCECNTR)｛ return；//ecc_RAM_ERRCNTR_FAILURE； ｝ //应清除 ECC 错误标志。 if (RAMErrRegs.CCEFLG.bit.C28CEFLAG)｛ return；//ecc_RAM_CEFLAG_FAILURE； ｝ //如第5.1.1.8节中的菜单所示启用 RAM 测试模式 EALLOW； RAMRegs.CLxRTESTINIT1.bit.ECCPARTEST_L1 = 1； EDIS； //翻转一位以创建可纠正的错误。 gRAMTest1L1 ^= 0x1； gRAMTest2L1 ^= 0x1； //现在，关闭 RAM 控制模块的测试模式以捕获错误 EALLOW； RAMRegs.CLxRTESTINIT1.bit.ECCPARTEST_L1 = 0； EDIS； uint32_t errorRegister = RAMErrRegs.CCPUCREADDR； uint32_t errorCount = RAMErrRegs.CCECNTR； while (！ramSingleBitErrorISRTaken)； //清除错误寄存器 RAMErrRegs.CCECLR.bit.C28CECLR = 1； ｝ __interrupt void ramSingleBitError (void) ｛ EALLOW； //确认此中断以接收来自组12的更多中断 PieCtrlRegs.PIEACX.ALL = PIEACK_Group12； EDIS； ramSingleBitErrorISRTake++； ｝
