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[参考译文] TMS320F28027：勘误表 ADC 的影响：初始转换

admin
Guru**** 2935310 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/949787/tms320f28027-impact-of-errata-adc-initialconversion

器件型号：TMS320F28027

您好！

我们正在寻找一个困难的错误。

这是一个较旧的器件、因此我们根据勘误表使用第一个样本。 (由 PWM 触发)。

问题是：此错误如何影响第一个样本的测量？

我们将测量零吗？

还是测量随机值？

或者测量值是否取决于上一个值？

一些背景信息将帮助我们找到错误(也可能是错误来自另一个点)

非常感谢。

此致

Markus

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    TI__Guru**** 2935310 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Markus、您好！

    如果您满足勘误表中列出的条件、但仍使用第一个样本、则该值可能不正确。 这并不是说它将测量零、而是说读数可能不是正确的转换结果。 我们在第一个采样结果中没有看到与另一个序列中上一个采样结果之间有任何关联。  

    是否可以丢弃应用中的第一个样本？ 请注意、勘误表中包含了其他权变措施、您可以使用这些权变措施来确定错误是否与使用第一个样本有关。  

    此致、

    Marlyn