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[参考译文] F28M36P63C2：F28M36P63C2

admin
Guru**** 2535750 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/761306/f28m36p63c2-f28m36p63c2

器件型号：F28M36P63C2

您好！

感谢您分享 TINA 仿真、它确实有所帮助、但似乎我的模拟采集遇到了另一个问题。

它适用于我的 ADC 的所有通道、除了最后一个或两个输入、ADC 输入端的电压下降和我的采集错误。

在每个输入端产生2.2uF 的 Cext 是否有可能影响最后一次 ADC 采集(例如：ADCxINB6和 ADCxINB7)？

提前感谢您。

Thomas

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    TI__Guru**** 2535750 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Thomas、

    您是否能够在使用示波器进行采样期间看到 ADC 引脚上的压降？

    除以下情况外、ADC 通道通常不会产生交叉影响：

    • 通道上的 S/H 电荷残留在 SOC 之间传输、因此当 SSN+1开始时、Sock 转换值将确定通道上的起始电压。 通过将 ACQPS 窗口与输入信号调节相匹配、以便 Ch 有足够的时间在 ACQPS 窗口内稳定、可以减轻这种影响。
    • 如果一个超出 VSSA-VDDA 范围的输入电压被驱动到一个通道上、它有可能以不可预知的方式影响 ADC 的运行
    • 当一个通道进行采样时、其互补的同步对采样电容器也将同时采样。 这适用于顺序和同步采样模式。

    我不希望一个通道的电容值影响另一个通道。

    Tommy

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Thomas、

    自上次更新以来已经有一段时间了。 我假设您能够解决您的问题。

    如果没有、请回复此主题。 如果该线程由于超时而锁定、请创建一个描述问题当前状态的新线程。

    Tommy
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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Tommy、您好！

    很抱歉、我们没有时间进行调查、但感谢您的回答、我们现在可以确定我们的调查的第一点和第三点、这可能会导致我们的架构出现一些问题。

    我会随时向您通报结果。

    谢谢你。

    Thomas