[参考译文] CCS/TMS320F28069：具有 TMS320f28069的 FTDI 微型模块

好的、那么您的问题是什么？

哦、很抱歉、它没有发布、我没有注意到。

我正在尝试定制 DRV8301-F28069套件。 我已连接 F28069和 USB 迷你模块，如控制卡的原理图所示。

我已将 USB 迷你模块的 TDS、TDO、TDI、TRSTn 和 TMS (AD0-AD4)引脚与 F28069的 TDS、TDO、TDI、TRSTn 和 TMS 连接。  

我还将 SCI_TX 和 SCI_RX 引脚与 GPIO_28和 GPIO_29相连、如 F28069控制卡的原理图所示。

我用3.3V 为 F28069加电、我尝试将 USB 模块连接到我的 PC 和 CodeComposerStudio、但这样做会导致 codecomposerStudio 出错、如所示  

连接到目标时出错：
(错误-151 @ 0x0)
连接期间使用的 FTDI 驱动程序函数之一
返回错误状态或错误。 原因可能是一个或
更多内容：没有插入 XDS100、XDS100序列号无效、
XDS100 EEPROM 空白、FTDI 驱动程序缺失、USB 电缆故障。
使用'common/uscif'中的 xds100serial 命令行实用程序
文件夹来验证是否可以找到 XDS100。
(仿真包7.0.100.0)。

注意：我已经在 MPROG 的帮助下对 USB 迷你模块的 EEPROM 进行了编程，以获取 XDS100v1驱动程序，并将 USB 插入 PC 显示 XDS100 USB 端口，因此我认为它可以正常工作。

如果我缺少一些连接或步骤、您能帮我吗？ 为什么 CCS 无法连接 USB 和 F2806？

 

Ayushi、
如果打开 CCS 的目标配置窗口、然后双击为此目标创建的 ccxml、它将弹出一个对话框进行设置。 如果您单击"test"按钮、您能否报告扫描测试的输出显示内容？

Matt

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Emulator_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]

---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\AYUSHI~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccsv7\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2017年11月6日"。
库构建时间为'10：36：36'。
库软件包版本为'7.0.100.0'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

我是否需要从外部插入单独的 XDS100调试仿真器？

Ayushi、
感谢您报告我在您执行的测试、这是一组更简单的调试器操作。 我注意到、在输出中、CCXML 正在尝试连接到 XDS100v2；但我相信在您的原始文章中、您提到 FTDI 器件已编程为 XDS100v1。

您应该能够将 CCXML 目标更改为 XDS100v1、然后重新执行"Test"按钮。

最棒的
Matthew