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[参考译文] CCS/TMS320F28379D：CCS/TMS320F28379D Launch Pad XL R.2

admin
Guru**** 2532210 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28379D

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/856832/ccs-tms320f28379d-ccs-tms320f28379d-launch-pad-xl-r-2

器件型号：TMS320F28379D

工具/软件：Code Composer Studio

我在我的应用中使用 TMS320F28379D、我将使用10.ms 的中断来测量 ADC 值。 我的目标是确定 ADC 值每10ms 的变化率。有人能告诉我如何实现这一点。

我尝试将测量值保持在另一个变量中、并找到具有新值的变量。 我的问题陈述是否有更好的解决方案。

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    TI__Guru**** 2532210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Shivashankar、您好、

    您的基本解决方案应该可以正常工作。

    更详细的一点可能是每10ms 在同一通道上触发 N 个样本、然后在存储/计算斜率之前将它们平均在一起。  这将平均一点噪声(可能从 N = 4开始)。   

    稍微详细一点，您可以保留最后的 N 个点 和/或增加采样率，以便10ms 窗口中有更多的点，然后 进行线性回归以找到斜率。  

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    TI__Guru**** 2532210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Devin Cottier、

    谢谢您、我将尝试并希望这可能有所帮助。