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[参考译文] TMS320F28377S-Q1：FTDI 驱动程序功能错误状态、未插入 XDS100、XDS100序列号无效。

admin
Guru**** 2426130 points
Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH, TMS320F28377S

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1171574/tms320f28377s-q1-ftdi-driver-function-bad-status-no-xds100-is-plugged-in-invalid-xds100-serial-number

器件型号：TMS320F28377S-Q1
主题中讨论的其他器件：UNIFLASH、 TMS320F28377S

各位专家：

我无法操作 TPS92662A EVM 软件。

其 LDM 模块包含 TMS320F28377SPZPQ

让我来展示我看到的问题消息。

案例1。 9次/10次：“No XDS100 devices found”(未找到 XDS100设备)和“FTDI driver functions bad status”(FTDI 驱动程序功能错误状态)\

Uniflash -  tms320f28377s.uniflash -加载映像(ECU_MkII_6_Chan)

因此、驱动器的连接性不好。

我在 E2E 中看到了多篇文章、如以下链接。 但我想知道这种情况与我的情况相同。

请为我提供解决此问题的指南吗？

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/21086/important----c2000-experimenter-kit-dual-rs232-fix

FTDI 设备、D2xxx 驱动程序下载

https://ftdichip.com/drivers/d2xx-drivers/

 

2. 1次/10次

 

"请将固件升级到版本0.31或更高版本。"

并且访问通知会出现(在 IT 安全策略窗口后面)。

当我单击访问按钮时、会出现 IT 安全策略消息。

谢谢你。

  • 0
    TI__Guru**** 2426130 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Dustin：

    如果可能、让我们尝试在 Code Composer Studio (CCS)中进行调试、因为我比 Uniflash 更熟悉 CCS JTAG 工具？

    是否可以将输出日志从测试连接发布到您的设备？ 因此 、当您使用 Code Composer Studio 时、打开 CCS 工程的'Target Configuration'、使用下图中圈出的'Test Connection"选项。 这将测试 JTAG 到器件的连接、其输出日志可能会提供一些 关于 错误代码之外发生什么错误的线索。

    如果您可以使用示波器来观察 JTAG 信号、则 应该会看到与我在"测试连接"时相同的模式、由于特定的调试器而具有很小的可变性。 下图显示了 TDO (黄色)、TMS (紫色)、TCK (蓝色)和 TRST (绿色)。 这是"测试连接"序列的开始、我在 TMS 的下降沿将其作为单个序列触发。 所有信号均为3.3V 数字信号。

    如果您更仔细地放大、您应该在开始时看到这种相同的图案。  


    如果您的"测试连接"不成功、您能否布置您的示波 器捕捉？  

    此致、

    Ben Collier

  • 0
    TI__Guru**** 2426130 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您的回复。

    请给我其他建议吗？

    这是我尝试通过 CCS 进行配置时的日志。

    选择 TMS320F28377S。

    JTAG TCLK 频率= 100KHz

    错误消息  

    (错误-2131 @ 0x0)无法访问器件寄存器。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。 (仿真包9.9.9.0.0.00040)  

    日志：

    [开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    执行以下命令：

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]


    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C：\Users\a0497925\AppData\Local\TEXASI~1\
    CCS\ccs1210\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100/110/510类产品。
    此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
    库构建日期为'EP 20 202022'。
    库构建时间为'12：28：44'。
    库软件包版本为'9.9.0.0.00040'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
    该软件配置为 FTDI FT2232功能。
    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试失败。
    JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
    JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG IR 完整性扫描测试失败。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    [结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

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    TI__Guru**** 2426130 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

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