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[参考译文] CCS/TMS320F28377S:在-25°C 以下对外部 SRAM 进行32位读取/写入

Guru**** 2540720 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28335

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/603208/ccs-tms320f28377s-32-bit-read-write-to-external-sram-below--25-c

器件型号:TMS320F28377S
主题中讨论的其他器件:TMS320F28335

工具/软件:Code Composer Studio

您好!
我们使用该处理器在-40°C 的温度下测试我们的器件 但是、只有50%的器件满足测试条件。
在-25°C 及以上的温度下、100%器件通过测试。
当32位读取和写入外部 SRAM 时、会发生该错误。 16位读取和写入正常。
我们尝试更改设置时间、保持时间和频闪灯阶段-没有成功。
我们发现处理器中存在问题、因为我们以前使用 TMS320F28335处理器的器件已经通过测试。
有人知道什么可以帮助我们吗?
谢谢你

配置:
CPU 类型(TMS320F28377SPTPS)+ SRAM 类型(IS61WV102416BLL-10TLI)
外部振荡器的频率为20MHz +主 PLL 为200MHz
SYS/BIOS 6.50.01.12
XDC 3.50.00.10

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    1月、

    您能描述一下存储器是如何发生故障的?  它是否完全死了?  有些数据位是正确的、而另一些数据位不正确?  数据显示在错误的地址位置?

    您可以尝试以下操作来查看是否可以确定失败的原因:

    1) 1)    检查内存保持、读取故障和引脚闩锁
       a.以-25°C 的温度写入测试数据(通过读取进行验证)
       B.向-45°C 的过渡
       c.尝试在-45C 时读回数据(预期失败)
       D.向-25°C 的过渡
       e.在-25°C 时读回数据

    2) 2)  检查写入失败
       a.以-25°C 的温度写入测试数据(通过读取进行验证)
       B.向-45°C 的过渡
       c.尝试在-45C 下写入新的测试数据(与步骤2A 不同)
       D.向-25°C 的过渡
       e.在-25°C 时读回步骤2C 中的数据

    Tommy

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    您是否在多个电路板上或仅在一个电路板上看到过此故障? 您是否还尝试减少 PLL 频率、以查看这是否对故障产生任何影响。
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    是的、我们尝试了多个板。 12个中有6个失败。
    我们将 PLL 频率降低至100MHz、结果相同。 它也失败了。
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    谢谢 Jan 故障是否与任何特定数据位有关? 是否有任何特定的故障模式? 此外、是否可以使用内部振荡器运行相同的测试、以查看行为是否有任何变化? 李宇人也提出了一些实验。 也可以尝试这些方法。

    Vivek Singh
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    我们设法找到了一个解决方案。 我们将 EMIF1模式从原始正常模式更改为选通模式。 现在、所有器件都将在-40°C 下通过测试 但是,我们仍然没有发现为什么只有50%的设备在正常模式下通过。 目前,不幸的是,我们没有足够的时间寻找根本原因。
    我们很高兴我们的器件能够正常工作。
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    您好、Jan、

    感谢您的更新、很高兴您找到了此问题的解决方法。 正常模式和选通模式之间的区别在于、在选通模式下、芯片选择信号生效、RD/WR 选通脉冲和地址在设置阶段被放置。 在正常模式下运行时、我怀疑某些时序参数不符合规格。 我们需要在故障情况下以及通过情况下在示波器上捕获信号、以了解差异。 稍后有时间时、您是否可以对此进行研究?