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[参考译文] F28M36P63C2:RAM/闪存错误率

Guru**** 2539500 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/595945/f28m36p63c2-ram-flash-error-rates

器件型号:F28M36P63C2

您好!

我正在努力在 Concerto 器件上实施有关存储器故障的安全措施。 我看到您有多个 ECC 寄存器来处理它...  用户可以根据用户定义的计数器阈值触发中断。

我想知道、当对闪存和 RAM 进行密集使用时、TI 是否收集了任何有关其错误率的数据... 因此、我可以大致了解可接受的阈值。

谢谢。

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    Cedric、

    该器件中使用的闪存技术非常可靠。 根据现场经验数据、未报告此问题的故障。 您应该能够达到阈值1。

    请注意、有一个勘误表(通报 C28x 闪存:单位 ECC 错误可能会导致对单位错误的无限调用
    中断服务例程)、要求您将阈值设置为大于或等于1的值。

    我将请我们的 RAM 专家来看看这一点。

    谢谢、此致、
    Vamsi
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    您好、Vamsi、

    感谢您提供闪存详细信息以及对勘误表的引用。 为了让您感受 RAM 的使用、我从 RAM 执行电机控制循环例程、频率为~60kHz、占用大约85%的 CPU 时间。  

    感谢您咨询 RAM 专家。

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    有没有关于这个问题的更新?
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    Cedric、

    我将提醒我们的 RAM 专家注意这一点。

    谢谢、此致、
    Vamsi
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    Cedric、

    RAM 本质上非常可靠、并且在建议的运行条件下使用器件时不会出现任何数据错误。

    通常会发生两种类型的错误、两者的发生率都很低。

    1) SER (软错误率)、通常来自宇宙粒子。  这些极少、但可能会影响不同 RAM 字中的多个位、单个事件可能最多影响3-4个位。  这是器件上 ECC 保护的主要目的。  

    2) 2)器件中的潜在缺陷。  这种情况也很少见、但也是可能的。  如果 RAM 位有缺陷导致其翻转、则在同一位置将经常反复出现这种情况。  ECC 通常会纠正这种情况、但在这种情况下、您可能需要将设备停用。

    因此,一般而言,我建议在采取行动之前,将 ECC 错误的限制设置为>10。  这将忽略 SER 错误、但会标记任何可重复器件问题。

    此致、

    Jason

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    谢谢 Jason。 这就是我所寻求的理由。