[参考译文] TMS320F28379D：内存测试问题

你(们)好。 以下是我的测试代码。  如上一节所述、我正在使用调试器查看哪些寄存器指示存储器测试错误：我正在监控 MemErrorRegs 以及 NMI 寄存器。  我没有看到任何变化。

代码：

//确保 RAM 正常
#define numberOfLocsToTest 5.
volatile uint16* ptr =(uint16*) 0x404；

for (int i = 0；i < numberOfLocsToTest；i++)
｛
//将测试区域初始化为零。
PTR[i]= 0；
｝
//启用测试寄存器。
EALLOW；
MemCfgRegs.DxTEST。s.test_M1 = 0x01；//只允许对数据位进行写入。 无到 ECC 位的写入
EDIS；
//写入失败.. 1位和2位的组合。
for (int i = 0；i < numberOfLocsToTest；i++)
｛
//将测试区域初始化为零。
PTR[i]= i+1；
｝
//读回数据
uint16 readback [numberOfLocsToTest]；

for (int i = 0；i < numberOfLocsToTest；i++)
｛
//应导致错误位被置位。
//我希望触发 NMI 和其他 TBD 错误寄存器。
//作为测试... 使用调试器确定触发哪些寄存器。

//注意：没有发生任何情况！！
readback [i]= ptr [i]；
｝

EALLOW；
MemCfgRegs.DxTEST。s.test_M1 = 0x00；//功能模式。
EDIS；