之前、我一直在使用 ECC 测试模式进行试验、目的是在执行写入函数时执行仿真 ECC 错误。 参考 TRM 2.12.10.3 SECDED 逻辑正确性检查。
1) 1)根据我的测试、ECC 测试模式似乎是一个完全独立的测试、它不依赖于任何主代码/程序。 如果是这种情况、我的假设是否正确、即在运行代码时无法将此方法集成到写入函数中以测试 ECC 完整性?
2) 2)是否有任何方法来测试芯片上的实际 ECC 功能、而不是测试模式计算的正确性。 我的项目的目的是测试器件的实际操作、而不是验证 ECC 计算算法。