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[参考译文] TMS320F28034：同一器件的 ADC 上的 INL (积分非线性)

admin
Guru**** 2611705 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/689604/tms320f28034-inl-integral-nonlinearity-at-adc-for-same-device

器件型号：TMS320F28034

各位专家、您好！

F28034 ADC INL 技术规格被定义为+/- 4LSB。 我们希望同一器件内的 INL 应该更准确。

请提供此类数据吗？ 这仅供 参考。

此致、

Uchikoshi  

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    TI__Guru**** 2611705 points
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    Uchikosi-San、

    INL 误差来自 单个器件内多个结构的制造公差所产生的随机误差的组合。  这些结构在器件内的特性非常相似、但是仍然有足够的变化来产生+/- 4 LSB 的 INL 误差。

    Tommy

  • 0
    TI__Guru**** 2611705 points
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    嗨、Tommy、
    产生此变化的因素是什么？ 温度、噪声等？
    此致、
    Uchikoshi
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    TI__Guru**** 2611705 points
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    Uchikosi-San、

    这些变化是由于制造公差造成的。 例如、如果您购买50个1kΩ Ω 理想电阻的电阻器、则电阻器之间的实际电阻差异很小。

    裸片上的所有组件都有类似的变化(例如：电阻器、电容器、晶体管、金属布线等)。 是导致 INL 误差的电气特性不匹配。

    Tommy
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    TI__Guru**** 2611705 points
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    嗨、Tommy、

    INL 是针对所有温度范围定义的。 如果 INL 变化是由于制造容差造成的、温度变化会产生什么影响？ 我们是否可以认为温度变化不会影响 INL 变化？

    此致、

    Uchikoshi

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    TI__Guru**** 2611705 points
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    Uchikosi-San、

    对于 INL 在整个温度范围内的漂移、我们没有任何指导。 我希望这会因器件而异、因为误差是由随机变化产生的、而随机变化可能会随温度漂移、也可能不会随温度漂移。

    Tommy