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器件型号：TMS320F2806 团队、
我的客户有以下问题。
我正在寻求帮助，以确定该部件的静态偏置条件：1)中子辐射闩锁测试和2)电离辐射总剂量测试。 我们已经获得了 TI 评估板并正在开发更复杂的测试，但我想先在静态偏置条件(即电源输入和无源负载)下测试该部件。
我无法使用评估。 因为它包含可能受中子辐射影响的电子器件。 我的目标是设计一个简单的偏置板、该板仅包含 DSP 和器件的无源电容或电阻和电源输入。 我需要帮助确定如何偏置每个引脚(上拉？ 下拉？ 常闭？ VCCTM GND？)。 在测试期间、我们将监测电源电流以检测任何闩锁事件。
感谢您的帮助！
此致、
Aaron
