[参考译文] TMS320F28388D：CCS 和 Simulink、交互不良？

您好 Richard、

首先，我对你的经历表示诚挚的歉意。 对于 Simulink 问题、我们依赖 MathWorks 团队。 我们没有资源来支持它。 请将问题发布到 MathWorks 论坛。 以下是链接：

MATLAB 可解答 C2000论坛。

话虽如此、我们可以调试为什么 controlCARD 停止使用 CCS。

您是否尝试连接？ 错误是什么？

此致、Santosh

您好、Santosh、

CCS 中的错误是

连接到目标时出错：
(错误-2131 @ 0x0)
无法访问设备寄存器。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。
(仿真包9.6.0.00172)

PCB 的 controlCARD 仿真器部分具有正常的 LED、但处理器 GPIO 都一直处于低电平。

此致、

Richard。

Richard、

您可以将电路板置于'WaitBoot'模式吗？

请从 C2000Ware SDK 导入任何示例、然后尝试。

C：/ti/c2000/C2000Ware_4_02_00_00/driverlib/f2838x/examples/c28x/led/CCS

此致、Santosh

您好、Santosh、

我的开关设置略有不同

我已使用'SCI/等待引导'。

遗憾的是、误差没有变化。

此致、

Richard。

您好 Richard、

您是否正在运行我提到的任何示例或尝试手动连接目标？  如果您手动启动目标配置，那么您能否在单击“测试连接”后共享完整的“控制台日志”调试消息？

此致、Santosh

您好、Santosh、

我 将使用 EPWM_EX8_d死 区示例并按 F11进行编译和调试。

此致、

Richard。

您好 Richard、

通过 CCS 菜单'View -> Target Configuration'打开 Target Configuration 窗口、 双击 CCXML 文件打开目标配置 、然后运行'Test Connection"。

然后发送"Console Log"

此致、Santosh

您好、Santosh、

[Start: Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]

Execute the command:

%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -F inform,logfile=yes -S pathlength -S integrity

[Result]


-----[Print the board config pathname(s)]------------------------------------

C:\Users\xxxxx\AppData\Local\TEXASI~1\
    CCS\ccs1100\0\0\BrdDat\testBoard.dat

-----[Print the reset-command software log-file]-----------------------------

This utility has selected a 100- or 510-class product.
This utility will load the adapter 'jioserdesusb.dll'.
The library build date was 'Dec  8 2021'.
The library build time was '11:16:32'.
The library package version is '9.6.0.00172'.
The library component version is '35.35.0.0'.
The controller does not use a programmable FPGA.
The controller has a version number of '4' (0x00000004).
The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
This utility will attempt to reset the controller.
This utility has successfully reset the controller.

-----[Print the reset-command hardware log-file]-----------------------------

The scan-path will be reset by toggling the JTAG TRST signal.
The controller is the FTDI FT2232 with USB interface.
The link from controller to target is direct (without cable).
The software is configured for FTDI FT2232 features.
The controller cannot monitor the value on the EMU[0] pin.
The controller cannot monitor the value on the EMU[1] pin.
The controller cannot control the timing on output pins.
The controller cannot control the timing on input pins.
The scan-path link-delay has been set to exactly '0' (0x0000).

-----[The log-file for the JTAG TCLK output generated from the PLL]----------

There is no hardware for programming the JTAG TCLK frequency.

-----[Measure the source and frequency of the final JTAG TCLKR input]--------

There is no hardware for measuring the JTAG TCLK frequency.

-----[Perform the standard path-length test on the JTAG IR and DR]-----------

This path-length test uses blocks of 64 32-bit words.

The test for the JTAG IR instruction path-length failed.
The JTAG IR instruction scan-path is stuck-at-ones.

The test for the JTAG DR bypass path-length failed.
The JTAG DR bypass scan-path is stuck-at-ones.

-----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]------------------------

This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.

Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Test 2 Word 0: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 1: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 2: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 3: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 4: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 5: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 6: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 7: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
The details of the first 8 errors have been provided.
The utility will now report only the count of failed tests.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 1
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 2
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 3
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 4
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 5
Some of the values were corrupted - 83.3 percent.

The JTAG IR Integrity scan-test has failed.

-----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]------------------------

This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.

Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Test 2 Word 0: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 1: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 2: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 3: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 4: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 5: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 6: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
Test 2 Word 7: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
The details of the first 8 errors have been provided.
The utility will now report only the count of failed tests.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 1
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 2
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 3
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 4
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 5
Some of the values were corrupted - 83.3 percent.

The JTAG DR Integrity scan-test has failed.

[End: Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]

此致、

Richard。

您好 Richard、

看起来它无法找到器件。

是否可以转到 Windows 设备管理器、查看是否正确枚举了它？

此外、我想确认您正在使用 controlCARD + dockingStation。

USB 电缆连接到两个板。 DockingStation 为 controlCARD 供电、而连接到 controlCARD 的 USB 电缆用于 XDS100v2。

此致、Santosh

您好、Santosh、

我一直在使用自己的载波 PCB 和额外的电子器件、controlCARD 的5V 电源来自 ATX 电源。

我在 HSEC180坞站中重新尝试了连接测试、结果相同。

此致、

Richard。

Richard、

出于调试目的、我们使用 HSEC180集线站、这是我们所熟悉的。 如果您使用的是上述连接、您是否看到它在 Windows 设备管理器中已正确枚举？

此致、Santosh

您好、Santosh、

仍然可以看到问题开始之前的情况。

我将按建议坚持使用集线站。

此致、

Richard。

您好、Santosh、

似乎此电路板可能存在硬件故障。 controlCARD 上的 TP8仅读取1.45V。 TP9 (1.21V)和 TP7 (4.97V)正常。

我将获得 U14的替代产品、但可能直到1月。

这可能是由编程过程引起的？ 当 GPIO 或 ADC 线路发生故障时、没有任何 GPIO 或 ADC 线路被外部驱动、我只使用逻辑分析仪监控 ePWM 输出。

此致、

Richard。

Richard、

我们应该在 Windows 设备管理器中看到两个条目

• 端口(COM 和 LPT)
  • XDS100 USB 类串行端口
• 德州仪器调试端口
  • XDS100类调试探针

您能否查看此应用手册并完成调试 JTAG 连接问题中提到的步骤？

https://www.ti.com/lit/spracf0 

此致、Santosh

您好、Santosh、

感谢您提供相关信息和链接。 我有另一个28388D 和一个28379D 进行比较、但它将在1月 之后才有结果要报告。

此致、

Richard。

好的、Richard。 当您有数据时、请告诉我们。

此致、Santosh

您好、Santosh、

对于出现故障的28388D 和正常工作的28379D、我在"Device Manager (设备管理器)"中看到以下端口

端口(COM 和 LPT)

XDS100 USB 类串行端口

德州仪器调试探针

XDS100类辅助端口

XDS100类调试端口

在 JTAG 调试流程的第4.2节第2步中、电源正常 LED 变暗、未完全打开。 请参阅我之前的文章、了解 TP8仅读取1.45V 而不是3.3V。

此致、

Richard。

Richard、

我不确定它如何停止工作。 如果 controlCARD 专家 能够帮助进一步调试、我将指派给他。

此致、Santosh

Richard、

因此、当有人为仿真器供电、而不是 C2000器件供电时、您看到的完成83.3%的误差是一个典型的误差。 这种情况很常见、因为人们可能不会意识到他们位于分离电源域上。 不过、我认为这不是您的问题。 该故障实际上只是一个卡在故障、仿真器无法从 C2000器件获得响应(因此、当用户忘记为器件供电时、该故障为何如此常见)

有趣的是、两个 F28388D controlCARD 发生了故障。 根据上面的消息、我不会期望您连接了任何错误的内容。 ESD 以前损坏过这些板、但在我个人的经验中、它们很难杀死。 LDO 是否会变热？ 这是一个典型的符号。 这意味着 LDO 驱动尽可能多的电流、以至于 TP8上的电压可能有点小。

调试通过嵌入式编码器生成的代码是否仍然存在问题？ 如果是这样、我将让您手动启动目标配置、然后使用该已知目标配置加载二进制文件。 在我看来、嵌入式编码器侧可能存在一个小设置配置错误。 由于我更熟悉 CCS 生态系统、让我们确认我们可以加载该生态系统、然后再从该生态系统运行。

此致、
Cody  

您好、Cody、

我的同事在第一个出现故障的 controlCARD 上更换了 U14 (TPS62420DRCR)稳压器。 这会使1V2和3V3电源轨恢复正常运行大约一分钟、然后再次出现故障。 这太短了、无法尝试对 C2000进行重新编程。

从这个结论中、我得出的结果是在3V3电源轨上消耗过多电流、导致 U14过热和失效。 该电路板人口密集且具有多层结构、因此很难进行调试。

就 ESD 而言、这种情况不太可能发生。 在这两种情况下、controlCARD 在发生故障时仍保持对接。  TMDSHSECDOCK 中的第一个由笔记本电脑的 USB 供电、 自定义 PCB 中的第二个由 ATX 电源的+5V 电源轨供电。 同样、电源的质量也不可能导致电源电压损坏。

当#1被修复并重新发生故障时、它位于 TMDSHSECDOCK 中、除了坞站 USB 电源之外没有其他连接。

回到原来问题的变化、28388D 中是否存在可由编程导致的已知故障模式、是否存在电流消耗过大的症状？

此致、

Richard。

您好、Cody、

我们没有返工 MCU 的 BGA 封装的工具。 通过移除 L3将 VDD_3V3电源轨与稳压器隔离可恢复稳压器输出、因此我们在 MCU 中有一条低阻抗路径、其中一条以太网驱动器、调试探针锁存器或时钟选择芯片。

除了在软件工作流程的同一时刻说两次故障是偶然的、我无法证明或否定 ESD 假设。

此致、

Richard。

Richard、

您已将两个板连接到您的定制硬件、对吧？ 您是否已验证您不会驱动或吸收器件引脚的大量电流？ 如果您使用的是 controlCARD IO 损坏、可能是损坏的最可能原因、而不是5V 电源。

此致、
Cody  

您好、Cody、

第二个是定制 PCB。 第一个仅位于 TMDSHSECDOCK 中、唯一的外部连接是具有逻辑探针和以太网(而不是 EtherCAT)的 Tektronix MDO34。 当时我没有将任何输入信号驱动到 GPIO 或 ADC。

拉电流/灌电流的平点。 我将重新验证定制 PCB 的设计。

此致、

Richard。

当然、如果您看到任何不寻常的东西、请告诉我。

此致、
Cody