我们正在开发航空电子安全关键型产品、并利用器件的 ECC/奇偶校验 RAM 和闪存。 但不清楚 CPU 寄存器和外设寄存器中是否有任何 ECC/奇偶校验保护来保护/检测单粒子翻转。
sprs881d 第6.3.4节“外设寄存器内存映射”表6-5不提供任何 ECC/奇偶校验信息。 这些寄存器是否具有 ECC/奇偶校验保护?
sprs881d 第6.3.5节“内存类型”表6-6不为外设寄存器提供任何 ECC/奇偶校验信息。
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我们正在开发航空电子安全关键型产品、并利用器件的 ECC/奇偶校验 RAM 和闪存。 但不清楚 CPU 寄存器和外设寄存器中是否有任何 ECC/奇偶校验保护来保护/检测单粒子翻转。
sprs881d 第6.3.4节“外设寄存器内存映射”表6-5不提供任何 ECC/奇偶校验信息。 这些寄存器是否具有 ECC/奇偶校验保护?
sprs881d 第6.3.5节“内存类型”表6-6不为外设寄存器提供任何 ECC/奇偶校验信息。
尊敬的 Eric:
正确的是、SRAM 更容易受到 SER 的影响、这是由于高能粒子、主要是因为 SRAM 的物理尺寸。
尽管如此、在 F28x37x MCU 上、可以通过文档" TMS320F2837xD/S 和 TMS320F2807x 安全手册"中列出的许多安全机制来保护外设和处理单元(CPU)上的位翻转、这些机制在 NDA 下提供。
根据外设是控制、通信和处理单元(CLA 和 C28x CPU)、下面安全手册中列出的一个或多个安全机制将适用于覆盖寄存器位上的 SER 故障。
此致、
--阿什什语