[参考译文] TMS320F28035：ADC 校准和总体未调整误差

[报价用户="HS WG-FAE "]为什么通道间错误不相关？

每个通道都将位于 ADC 的 TUE 范围内。  通道间误差不会导致 TUE；它仅描述了在 TUE 范围内各通道间应预期的变化量。

[引用 USER="HS WG-FAE ]'校准增益误差：为什么 为源误差添加 NL +/-4 LSB？ REF5030的2.1LSB 应该足够了。[/引用]

/-4 LSB INL 来自 ADC 本身内组件值的不匹配、因此它将独立于外部 REF5030。

[引用 USER="HS WG-FAE ]'校准增益误差：为什么需要电阻分压器？ REF 电压是否可以直接用于 ADC 通道？[/quot]

直接采样 REF (当驱动 VREFHI 时)将不允许检测正增益误差(当 ADC 转换高于理想值时)、因为转换将在满量程4095上饱和。

您好！
还有一些问题：
-最后一个线程中的第二个表显示了 F28034的校准值。 F2807x 和 F28004x 的列仍显示为未校准。 然后、例如、基准 GE 也应为+/- 0 LSB。
- F28034：当执行定期偏移和增益校准时、生产校准没有意义。 对吧？
- F28004x：生产校准将消除电阻器和基准误差。 然后、客户会取消定期校准。 这有道理吗？ (当然不会消除温度)。

此致、Holger

[引用 USER="HS WG-FAE ]]最后一个线程中的第二个表显示了 F28034的校准值。 F2807x 和 F28004x 的列仍显示为未校准。 然后、例如、基准 GE 也应为+/- 0 LSB。

是的。  旧线程侧重于 F2803x、因此假设只有 F2803x 被修整。  比较表中还有一条次要消息、即 F2803x 系统内校准的总 TUE 改进要远大于 F2807x 或 F28004x 系统内校准可能获得的改进。

[引用 USER="HS WG-FAE ]F28034：定期校准偏移和增益时、生产校准没有意义。 对吗？[/报价]

正确、系统内校准将取代生产校准、尽管生产校准可用作总故障检测的参考。  例如、如果系统内校准与生产校准的差异大于 X %、则可能是出现了问题。

[引用 USER="HS WG-FAE ]F28004x：生产校准可以消除电阻器和基准误差。 然后、客户会取消定期校准。 这有道理吗？ (当然不会消除温度)。[/引述]

我不确定我是否关注您的问题。  您是否意味着生产校准将更加精确、因为电阻器和参考值可由校准后的工作台仪器直接测量？

我认为、在生产中收集准确的测量值并将这些值存储到闪存中将是有益的、这样系统内校准就能够了解电阻器和基准的实际值。

在有关 F28004x 的第三个问题中、客户只想执行生产校准、并定期放弃校准。 通过生产校准、它们可以检测电阻器和电压基准容差。