[参考译文] TMS320F28377D：FFT 问题

Bharadwaj、

我不确定我是否理解您的问题发生的时间点。

使用 DMA 时、ADC 正在采样、数据未正确将其输入到数据缓冲器中？ 是这样吗？

您是否将 DMA 分配为存储 DMA 缓冲区的存储器部分的主器件？


谢谢、
标记

您好、先生、

当我尝试从具有250kHz FFT 的代码内部生成正弦和余弦波形时，正发生适当的峰值和二进制数。现在我通过矢量信号发生器提供 ADC 样本，所有样本都是以+INF、+INF、+INF、+INF e.t.c 的形式出现的...请帮助我解决此问题

谢谢、此致、
Bharadwaj V

是的。基本上我使用 DMA 来收集 ADC 样本。在收集 ADC 样本(256)后、DMA 缓冲器将分配给 FFT 缓冲区。这样、从 FFT、相位、magintude 开始就会发生。现在一切都是无限的。(+INF、+INF 等)

我的意思是 DMA 样本收集正常、在没有发生 FFT 之后、它是16位 ADC

Bharadwaj、
让我们在这里稍微减慢一点、然后进行处理。 请回答以下问题：

您的 ADC 代码正在正确采样、DMA 已成功、您的缓冲区正在运行 FFT 算法？
2、FFT 输出仅提供+INF 值？

-Mark

是的、SIR。ADC 采样正在正常进行、DMA 也会正确收集采样(512个采样)。将数据收集到 DMA 后、相同的数据将传递到 FFT 函数。在没有发生 FFT 时、FFT 输出返回'+INF'值(全部256个)。这就是我所面临的问题。

Bharadwaj、

好的。 因此、看起来我们可以消除这里的 DMA 和 ADC 作为问题。 您是否正在使用 TI 提供的示例或库进行 FFT 计算？ 这是自定义算法吗？

我注意到您使用的是 F28377D、操作 CPU 是否可以访问存储缓冲区的存储器部分？ 如果这在 CPU2上运行、请确保 CPU2拥有存储器部分的所有权。 或者、如果算法在 CPU1上运行、请确保 CPU2不拥有您希望操作的存储器部分。

-Mark

我使用的是 TI 提供的 FFT 库、我使用的是 CPU1、但不是 CPU2。 那么、您现在将得出什么结论呢？？

我们可以直接为 FFT 提供数字计数吗？ 或者我们必须将数字计数转换为电压形式？

Bharadwaj、

我在一些同事中遇到了一些可能能够提供帮助的问题。 这是一周的结束时间、因此您可能在周一之前没有收到回复。

谢谢、
标记

您好、Bhardwaj、

我希望您参考以下示例！

{install_dir}\c2000ware\libraries\dsp\FPU\c28\examples\FFT\rfft_adc_f32。

然后、我希望您确保代码中的以下内容正确：

1. 您正在将正确的数据段分配给 FFT 输入缓冲器。
2. FFT 输入缓冲区可访问 DMA 缓冲  区、您可以看到这两个位置具有相同的值集。
3. 您正在根据输入数量正确定义 FFT_ALIGN。(否则请使用未对齐的代码)

此外、如果可能、您可以与我们分享一些代码片段、以便我们能够轻松了解代码的流程。

此致、

Ritvik

Bhardwaj、

自上次答复以来已经有几天了。 Ritvik 的回复是否有助于解决您的问题？

谢谢、
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先生。 今天、我将分享我的代码流。

FFT 代码：

#include "math.h"
#include "FPU_CFFT.h"
#define CFFT_STOPENages 8.
#define CFFT_SIZE 256

#pragma DATA_SECTION (CFFTin1Buff、"CFFTdata1")；
浮点 CFFTin1Buff [CFFT_SIZE]；

#pragma DATA_SECTION (CFFTin1Buff、"CFFTdata1")；
uint16 DMABuf1 [CFFT_SIZE]；

void main (void)
｛
CFFT.Coefptr = CFFT32Coef；
CFFT.Intr = CFFTin1Buff；
CFFT.Outptr = CFFToutBuff；
CFFT.Stages = CFFT_Stages；
CFFT.FFTSize = CFFT_SIZE；

CFFT_F32_SINCOSTable (&CFFT)；

//清除输入缓冲区：
for (i=0；i<(CFFT_SIZE * 2)；i=i+2)
｛
CFFTin1Buff [i]= 0.0f；
CFFTin1Buff [I+1]= 0.0f；
CFFToutBuff [i]= 0.0f；
CFFToutBuff [i+1]= 0.0f；
｝
while (1)
｛
if (dma_STAT = 1) //通过 DMA 收集 ADC 后，将设置此标志。
｛
J=0；
//将第一个 I 样本和下一个 Q 样本复制到 CFFT 缓冲区中。这样 CCFT 缓冲区的第一个索引将是实数部分和第二个索引
由虚部组成的 CFFT 缓冲区的索引。
for (i=0；i<(CFFT_SIZE * 2)；i=i+2)
｛
CFFTin1Buff [i]= DMABuf1 [j]； //DMABuF1由 ADC-I 样本组成
CFFTin1Buff [i+1]= DMABuf2 [j++]； //DMABuf2由 ADC-Q 样本组成
｝
DMA_STAT = 0；
｝

CFFT_F32 (&CFFT)； //应用 FFT。
CFFT_F32_MAG (&CFFT)； //应用幅度。

}//end of while (1)
}//end of main



现在、在将样本采集到 DMA 缓冲区中、并且应用 FFT 后、所有样本都是无穷大的。(+INF、+INF、+INF、+INF)。
希望快速响应。
谢谢、此致、
Bharadwaj。

抱歉、第二 个#pragma、


#pragma DATA_SECTION (DMAF1、"secure ram0")；
UINT16 DMAF1 [256]

Bharadwaj、

当您的代码对我来说是正确的时、我能否获取您的链接器命令文件和.map 文件来检查内存分配是否正确、以及您是否正确对齐了缓冲区。

我想让您在这里测试的一点是、您能否运行一次来查看输出是否相同、而不是运行无限循环？

-Ritvik

您好、先生、
很抱歉耽误了回复时间。我的问题似乎部分得到解决、因为我正在编写内部 sin、cos 生成函数来为外部 ADC 样本执行 FFT。(尽管不需要生成)因为我的 FFT 相关函数链接到这些内部 sin、cos 生成函数 i、e、 链接到数学库。现在获取用于外部 ADC 样本的 FFT……非常感谢您的关注。

主席先生、现在我还有一个疑问。是否可以通过 CLA 在 TMS320F28377d 上发布 DAC？ 无需 CPU 干预？？

谢谢、此致、
BHARADWAJ

Bharadwaj、

我很高兴您能够解决您的原始问题！

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谢谢！
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