主题中讨论的其他器件：LAUNCHXL-F28069M
大家好、
我有一个 LaunchxL-F28069M 板、直到昨天工作正常、但今天当我将其连接到 PC 时、3个 LED 不像以前那样闪烁。 只有两个 LED 启动、但不会持续闪烁。 MCU 也会过热。
此外、当我在 CCS 中运行测试硬件时、会出现以下错误
[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行以下命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C：\Users\Akshay\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为 "2018年2月8日"。
库构建时间为'18：36：28'。
库软件包版本为'7.0.188.0'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为38位。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
测试4字9：扫描出0x01FC1F1D、扫描到0xFFFC1F1D。
测试4字10：扫描出0x01FC1F1D 并扫描到0xFFFFFFFF。
测试4字11：扫描出0x01FC1F1D 并扫描到0xFFFFFFFF。
测试4字12：扫描输出0x01FC1F1D、扫描输入0xFFFFFFFF。
测试4字13：扫描出0x01FC1F1D 并扫描到0xFFFFFFFF。
测试4字14：扫描出0x01FC1F1D 并扫描到0xFFFFFFFF。
测试4字15：扫描出0x01FC1F1D 并扫描到0xFFFFFFFF。
测试4字16：扫描输出0x01FC1F1D、扫描输入0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：4、跳过：0、失败：1
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：2
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：3
一些值已损坏- 46.9%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]
已尝试在 CCS 中启动目标配置并进行连接、如下所示：
C28xx：停止目标 CPU 时出现问题：(错误-1137 @ 0x6)器件保持在复位状态。 使器件退出复位状态、然后重试此操作。 (仿真包7.0.188.0)
C28xx：错误：(错误-1135 @ 0x0)调试探针报告了错误。 确认调试探针配置和连接、重置调试探针、然后重试此操作。 (仿真包7.0.188.0)
C28xx：20次尝试后无法确定目标状态
C28xx：在断开连接之前未能从目标中删除调试状态。 程序存储器中仍可能嵌入了断点运算代码。 建议您在连接之前重置仿真器、并在继续调试之前重新加载程序
C28xx：GEL：执行 OnTargetConnect()时出错：无法读取寄存器 ST1：目标未连接
AT (ST1&~(0x0100))[f28069.GEL：312]
在 C28x_Mode ()[f28069.GEL：78]
在 OnTargetConnect()
