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[参考译文] TMS320F28377D：在闪存上执行校验和

admin
Guru**** 2614265 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/696459/tms320f28377d-executing-a-checksum-on-flash-memory

器件型号：TMS320F28377D

大家好、我在调用主函数 来检查闪存完整性之前、正在尝试对闪存进行校验和测试。 我 介绍了 TI 已经提供的一些示例、可以看到一些函数用于在 ROM 引导加载程序示例中对 boot_ROM 存储器执行校验和。 我找不到任何闪存。 我想知道 是否有一些在闪存 存储器上执行校验和的示例、或者是否有任何有关如何通过添加某些功能来执行校验和的文档。

谢谢、

巴拉。

  • 0
    TI__Guru**** 2614265 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Bala、

    编程时应验证闪存存储器的内容。

    F2837x 器件上的片上闪存存储器由单纠错、双纠错(SECDED)错误校正代码(ECC)诊断支持。 在这个 SECDED 机制中、一个8位代码字被用来存储64位数据和相应地址的 ECC。 闪存组输出上的 ECC 解码逻辑检查存储器内容的正确性。 ECC 评估在每次读取数据/程序时执行。 连接 CPU 和闪存的数据/程序互连不受 ECC 保护。 根据是否启用了校正功能、可以校正或不校正检测到的可纠正错误。 单位地址 ECC 错误被标记为不可纠正的错误。 无法纠正的错误将生成 NMI 并将 ERRORSTS 引脚置为有效。 校正的错误计数(单个位数据错误)由闪存包装程序监控、并且一旦计数超过编程的阈值、就会生成一个中断。 最后一个错误位置的损坏内存地址也被记录在闪存包装程序中。

    请参阅 www.ti.com/.../sprui78b.pdf 上的 TMS320F2837xD/S 和 TMS320F2807x 安全手册
    谢谢。

    此致、
    韩章