[参考译文] TMS320F28335：为 IEC60730使用 STL

所有这些"创建输出段"警告意味着它们尚未更新 cmd 文件来添加库所需的段。 他们应该使用 STL 中简单演示应用程序的.cmd 文件作为指南。 库用户指南中还应提供其他说明。

InitSciaGpio 位于正常的 DSP2833x_Sci.c 中 我认为简单演示应用仅使用此功能来配置 SCI 以通过 UART 将测试结果发送到 PC、因此不需要集成到客户应用中。

我在库中找不到任何名为 test_testSafeRam 的东西-有一个 STL_CRC_test_testSafeRam 和一个 STL_March_test_testSafeRam。 我猜他们在代码中切断函数名称第一部分的地方有一个复制和粘贴错误。

惠特尼

谢谢惠特尼。  我们通过您的提醒来解决大多数问题。

我们仍有错误消息、您能帮忙吗？

谢谢你。

非常感谢惠特尼、这个问题解决了。

我们将使用 TI IEC60730库启动 DSP 固件 UL1998证书。

第三方实验室要求我们执行与 TI IEC60730库相关的一些测试、我们宣布固件已安装。

我们没有此类测试经验的示例、不知道如何使 DSP 寄存器多函数、PC 异常、 不可变存储器、 内部数据路径等

能否提供一些测试模板或示例？

谢谢你。

珍妮

您是否在尝试弄清楚如何引入错误以表明应用能够正确检测这些错误？ 某些具有内置#IFS 的测试可打开/关闭错误注入。 您可以查看"Fail Case Tests"一章、查看其中一些测试的列表。

惠特尼

是的、惠特尼。 我们 想要 了解如何引入误差、以便展示应用 可以正常工作。

我们找不到 #IFS 来开启/关闭错误注入指令、也找不到  IEC60730_F2833x_STL_User_Manual.pdf 中的"失败案例测试"一章、请提供说明或提供相关文档。

谢谢你。

珍妮

其中包括 D.1.3节。 不过、我将在此处粘贴文本：

简单演示应用示例和安全测试库,在可能的情况下,提供引入错误的配置,以测试安全测试库。 这是在代码开发期间进行测试之外完成的。 故障情况测试可以通过设置宏 LIB_TEST_ISR_ERROR、LIB_TEST_March_ERROR_ASC、LIB_TEST_March_ERROR_DSC、LIB_TEST_FPU_TEST_ERROR、LIB_TEST_CPU_TEST_ERROR lib_test_epwm_test_error in STL_system_config.h in Safety test library、LIB_TEST_ECAP_APWM_MODE_ERROR、LIB_TEST_振 荡器_ERROR、LIB_TEST_SPI_ERROR、LIB_TEST_SCI_ERROR lib_test_I2C_error、simple demo 应用中的 LIB_test_can_error、LIB_test_watchdog_error、LIB_test_timer_0_1_error、STL_test_report.h 中的 LIB_test_timer_2_error、以及简单演示应用中在 main.h 中声明的变量 gErrorTestFlag。 注意：这些宏和变量 gErrorTestFlag 应仅用于测试目的。

如前所述、它们在 STL_system_config.h 中启用

惠特尼

谢谢、惠特尼。

还有一个问题、我们使用 STL_Oscator_TEST_testExtOscUsingSf0来检查内部振荡器。

我们无法为子例程 SFO_MepDiss_V5成功构建。

STL_Oscillator_test.c 包含 SF0_V5.h

 IEC60730_STL_Library_v4_00_01_00中没有 SFO_V5.h、我们 在 TI 网站中下载 SFO_V5.h。  SFO_V5.h 可能不正确吗？

 此处附加了 SFO_V5.h。 谢谢你。

珍妮

e2e.ti.com/.../SFO_5F00_V5.h

SFO 库是 controlSUITE 的一部分。 您是否在项目中链接.lib？ 您可以在 controlSUITE 的 C：\ti\controlSUITE\device_support\F2833x\v142\DSP2833x_common\lib 下找到它

惠特尼