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[参考译文] TMS320F280025:内部 ADC 基准漂移

Guru**** 2540720 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1246273/tms320f280025-internal-adc-reference-drift

器件型号:TMS320F280025

尊敬的支持团队:

我正在 一个大容量充电器项目中使用 ADC 的内部基准、需要计算我的设计的测量精度。 从数据表中我只得到+- 45位的总增益误差。 这可能是最坏情况下的典型误差总和、如:增益误差、校准误差、电源电压漂移、温度漂移等。 我们可以校准所有静态误差(初始误差)、但为了计算性能、我们需要漂移参数。 (温度系数和长期漂移)。 我敢肯定 TI 有这些数据。 它可以公开还是可以得到一个位置的指针来查找它?

非常感谢!

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    Heiko 您好、

    ±45 LSB 增益误差规格包含温度变化、并考虑了预期工作寿命内的漂移。  遗憾的是、我们不会发布内部特性或鉴定数据日志、而且我们也没有温度系数规格、因为温度系数可能因器件而异。

    此致、
    伊袋

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    你好,Ibukun,

    感谢您快速回答。 我认为、最好能将内部基准的属性与 ADC 分开指定。 然后、作为替代方案、用户可以直接将性能与外部基准进行比较。

    根据您当前的规格、我必须使用一个外部参考、尽管我确信从技术角度来看这是没有必要的。 它会为我的设计增加额外的成本。

    我知道、对于工程师来说、公司政策有时难以理解。 因此、我接受您的答案、您可以关闭该主题。

    再次感谢您的支持

    海科

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    Heiko 您好、

    我理解这种困境。 将来、我们有可能发布一个简化的规格来限制能够限制工作温度范围的应用的增益误差。 增益误差的主要动因是在-40C 至125C 范围内的变化、正如我之前所说的那样 、这个曲线在所有单元内并不一致、所以也指定温度系数方程是不太现实的。 您可能会得到一个仅变化10 LSB 的单元、另一个变化40 LSB 的单元。 所以我们必须遵守这一规范。

    此致、
    伊袋