[参考译文] TMS320F28375S：SN29500时基故障计算与 TI 的时基故障数值

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1237478/tms320f28375s-sn29500-fit-calculations-vs-ti-fit-numbers

我有一个与此帖子非常类似的问题：

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000-microcontrollers---internal/f/c2000-microcontrollers---internal-forum/416020/tms320f28334-fit-rate?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=sn29500#

为了提出用于安全功能计算的电子组件时 基故障、我的客户一直在使用供应商的 IC 时基故障数据。 该客户最近要求使用 SN29500中的预测#开始使用更保守的方法。

 因此，以下问题：

1. 一般是否为 IC 提供 SN29500-2时基故障计算所需的 IC 结构数据？ (即门的数量和/或晶体管的数量等) 获得这些信息的难度有多大？
2. 是否可以 说明以下部件基于 SN29500的时基故障计算：
   1. TMS320F28375SZWTT
   2. F280049PZS
   3. TMS320F28335PGFA  
3. 如何 比较基于 SN29500的时基故障数字与通过 TI 可靠性测试以及 TI 网站上报告的时基故障数字？
4. 基于 SN29500的时基故障数字对现实世界是否有任何意义？
5. 对于使用 SN29500-2进行 FIT 与实际 TI 可靠性测试数据进行安全功能计算评估的情况、TI 有何看法？

 谢谢！