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[参考译文] TMS320F28377D：应用于 TMS320F28377D 的诊断库 SafeTI

admin
Guru**** 657930 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1256894/tms320f28377d-diagnostic-library-safeti-applied-to-tms320f28377d

器件型号：TMS320F28377D

您好！

我想使用闪存 CRC 函数来测试存储器。 我下载了诊断库、但不明白为什么有两个.lib： F2837xD_Diagnostic _STL_CPU1_DEBUG.lib 和 F2837xD_Diagnostic _STL_CPU1_RELEASe.lib。 它们之间有什么区别？ 我应该将其中的哪些用于我的应用？

谢谢！  

迈特

  • 0
    TI__Guru**** 657930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    调试使用较低的编译器优化级别来简化库函数的调试、并包含一些用于函数参数检查的断言。 版本使用更高的编译器优化并删除断言。 它可以提供更好的性能、但由于进行了优化、单步执行会更困难一些。

    您可以在 diagnostic/f2837xd/ccs/中导入库工程、来查看每个版本使用的编译器选项、或者根据需要创建自定义版本。

    惠特尼