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器件型号：TMS320F28377S 我尝试在 F28377S Launchpad 上运行示例项目、但无法连接板载(XDM100v2) JTAG 探针。 我一直遇到关于"固定不变的"的错误：
[开始：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]执行命令：%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性[结果]-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------C：\Users\CTOBIN~1.MAR\AppData\Local\TEXASI~1\ccs\ccs1240\0\0\BrdBat\testBoard.dat-------- [打印复位命令软件日志文件]----------此实用程序已选择100/110/510类产品。该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。库构建日期为 2023年6月2日。库构建时间为"12：47：07"。库软件包版本为"9.12.0.00150"。库组件版本为'35.35.35.5.0'。控制器不使用可编程 FPGA。控制器的版本号为"4"(0x00000004)。控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。此实用程序将尝试重置控制器。此实用程序已成功重置控制器。-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。控制器为带 USB 接口的 FTDI FT2232。从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。该软件针对 FTDI FT2232功能进行了配置。控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。控制器无法控制输出引脚上的时序。控制器无法控制输入引脚上的时序。扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。-------- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。-------- [测量 JTAG TCLKR 最后输入的源和频率]----没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。-------- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试}-->----此路径长度测试使用64个32位字的块。JTAG IR 指令路径长度测试失败。JTAG IR 指令扫描路径固定为1。JTAG DR 旁路路径长度测试失败。JTAG DR 旁路扫描路径固定为1。-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------此测试将使用64个32位字的块。此测试将只应用一次。使用0xFFFFFFFF 执行测试。扫描测试：1、跳过：0、失败：0使用0x00000000进行测试。测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。提供了前8个错误的详细信息。实用程序现在将仅报告失败测试的计数。扫描测试：2、跳过：0、失败：1使用0xFE03E0E2进行测试。扫描测试：3、跳过：0、失败：2使用0x01FC1F1D 进行测试。扫描测试：4、跳过：0、失败：3使用0x5533CCAA 进行测试。扫描测试：5、跳过：0、失败：4使用0xAACC3355进行测试。扫描测试：6、跳过：0、失败：5其中一些值已损坏- 83.3%。JTAG IR 完整性扫描测试失败。-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------此测试将使用64个32位字的块。此测试将只应用一次。使用0xFFFFFFFF 执行测试。扫描测试：1、跳过：0、失败：0使用0x00000000进行测试。测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。提供了前8个错误的详细信息。实用程序现在将仅报告失败测试的计数。扫描测试：2、跳过：0、失败：1使用0xFE03E0E2进行测试。扫描测试：3、跳过：0、失败：2使用0x01FC1F1D 进行测试。扫描测试：4、跳过：0、失败：3使用0x5533CCAA 进行测试。扫描测试：5、跳过：0、失败：4使用0xAACC3355进行测试。扫描测试：6、跳过：0、失败：5其中一些值已损坏- 83.3%。JTAG DR 完整性扫描测试失败。[End：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
