在研究 HWBIST 涵盖的 CPU 寄存器时、我有一些问题需要反馈。
我们正在针对 F280037进行开发、但在开发硬件之前、我们将在 LaunchPad 上为 F280039C 进行开发。 因此这些问题最终适用于37、但通过询问39 °C 来了解初步开发阶段的差异。
此处的 HWBIST 文档 适用于 整个 C2000系列、所有这些功能在所有 C2000 MCU 中都可用吗?
根据 MatthewPate 在该论文中的描述、当时(2021年)、运行时测试仅适用于 C2000 MCU 的一个子集:
是否有更新的列表或矩阵显示了每个 MCU 在启动时和运行时可进行的测试?
我还无法找到 HWBIST 中描述的 CPU 寄存器测试、这是否在某处进行了描述、我是否错过了? 我怀疑有内置的支持来涵盖 CPU 寄存器的一些 UL-1998要求、但无法找到 除上下文保存/恢复 要求之外有关内部寄存器测试方法的具体详细信息。 是否涵盖了所有寄存器、以及这些寄存器在哪里记录?
谢谢