主题中讨论的其他器件:C2000WARE
大家好、
客户有问题需要您的帮助:
1.在28379 MCU self_test 示例中、存在闪存 ECC 检测 uint16_t STL_Flash_detectECCError (const STL_Flash_ECCDetectHandleflashECCDetectHandle)
插入闪存 ECC 故障时、请使用以下地址
#define STA_USER_FLASH_START_ADDR_ERR 0x701F8U
#define STA_USER_FLASH_END_ADDR_ERR 0x701FCU
检查相关信息、0x701F8U-0x701FFU 区域是 TI OTP 区域、TI 已在该区域插入 ECC 故障、触发此故障的频率如何?
2.在上电自检过程中会检测到闪存 ECC,在执行故障插入时会触发故障;但是,当闪存 ECC 在主循环中用于定期自检时,在执行故障插入时有时会检测到故障,而有时无法检测到故障。 它会定期更改。 这是由 TI OTP 区域中的 ECC 故障触发周期引起的吗?
谢谢。此致、
本

