[参考译文] TMS320F28374D：在芯片老化测试期间、外部晶体振荡器不工作

[quote userid="494485" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1278378/tms320f28374d-external-crystal-oscillator-does-not-work-during-chip-burn-in-test 我的客户发现 、在老化测试期间测试外部晶体振荡器时、100件中有3件没有振动。  [/报价]

最高老化温度是多少？

[quote userid="494485" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1278378/tms320f28374d-external-crystal-oscillator-does-not-work-during-chip-burn-in-test 我们检查了客户选择的晶体振荡器参数，但确实与规格有偏差[/报价]

偏差是什么？ 您是指  CL1=CL2=33pF 吗？

您好、Hareesh。

感谢您的回复。

Johnson Ding 说：

最高老化温度是多少?

60℃

Johnson Ding 说：

有什么偏差？ 您是指  CL1=CL2=33pF 吗？

是的、我发现  规格中的最大负载电容为24pF、ESR 略高、 这可能是主要原因吗？ 我看到客户的布局没有任何问题。

Bruce：

  如果100块电路板中只有3块电路板老化失败、则意味着设计中存在一定的边缘性。 当晶体数据表要求20 pF 且我们的数据表要求24 pF 时、为什么客户使用 CL1=CL2=33 pF？  

您可以参阅 www.ti.com/lit/SPRS61中的6.12.3.4 XTAL 振荡器部分。 尽管这是另一个 器件的数据表、但该器件中也使用了相同的晶体振荡器。 本节说明了以下内容：

"CL 对晶体的影响是频率牵引。 如果有效负载电容低于目标值、晶体频率将增加、反之亦然。 然而、频率牵引的影响通常非常小、通常会导致与标称频率相差不到10ppm。"

因此、CL 值的边际偏差影响频率值、而不是晶体振荡器本身的运行。

您好、Hareesh。

ESR 呢？ 过高的 ESR 是否会导致过大的功率并影响晶体振荡器的运行？