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[参考译文] TMS320F28377S-Q1:工作温度和鉴定测试

Guru**** 2394305 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1283417/tms320f28377s-q1-operating-temperature-and-qualification-test

器件型号:TMS320F28377S-Q1

我 目前有新设计、并期待使用 C2000系列处理器之一:TMS320F2837xS。

 

我已查看 TMS320F2837xS 的数据表、* 28377S-Q1器件的额定温度显示为 40c 至150C (结温)和-40c 至125C (自然通风温度)、 该电压看起来与我的设计要求匹配。

我想知道是否有更多  与处理器系列相关的温度鉴定数据。 此外、可以在200 MHz 的150°C 处运行两个内核吗?

谢谢。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Junchao、您好!

    Unknown 说:
    此外,是否可以在200 MHz 的150°C 运行两个内核?

    查看数据表、了解 F2837xD 器件的 Q 版本只有结温符合此要求、就环境温度而言、该器件将不满足此要求:

    我相信 器件会在频率等各种设置下进行测试、但我会将此问题转交给另一位专家、他可能能够提供更多说明。

    此致、

    阿米尔·奥马尔

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    说到 Omer、DS 中指定为 MAX/MIN 的任何值都已在器件的列出温度范围内经过验证/表征、可确保器件的使用寿命。

    我还建议查看 https://www.ti.com/lit/sprabx4上的这份应用报告。  这有助于 我们根据您的任务剖面来计算器件的使用寿命。  

    在105C T 结温下、所有 C2000 MCU 的额定有效寿命均为100k 通电小时。  虽然此器件在150C T 结温下完全受支持、但前提是器件在该温度下100%运行开通时间(这在工业/汽车环境中很常见)、其使用寿命将小于上述值。

    此致!

    马修

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    您好、Omer:  

    非常感谢您的回复。  

    数据表提供环境温度和结温、您能指定要查找哪种类型的温度鉴定数据吗? 您是否在询问我们如何测试设备上的温度?

    是的、我想了解有关处理器如何在何种温度下资质以及测试多久的详细信息、在高于150C 结温(或125C 环境温度)的条件下工作时可使用任何降额因数。 处理器是否采用不同封装进行了测试? 根据我的经验、故障主要是由封装而不是裸片引起的。  

    查看数据表、了解 F2837xD 器件的 Q 版本只有结温符合此要求、就环境温度而言、该器件将不满足此要求:

    [/报价]

    如果结温高于150C 或环境温度高于125C、是否有任何降额因子可用于计算寿命。

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    Matthew、您好!  

    感谢您分享有关使用寿命计算的应用报告。  

    正如我在回复 Omer 时所说的、当其工作环境温度超过125°C 时、我会对降额因子很感兴趣、这并没有包含在应用报告中。  

    谢谢。
    俊超  

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    Junchao、

    您能否分享您的任务概况、即不同温度下的预期通电时间?  如您所述、该器件能够承受150C Tj、但如果超出 DS 规格、我们无法保证其功能正常。  

    我需要检查 Ta 限值、我相当确信、 如果严格执行了该限制、则无法达到 Tj。

    此致!
    马修