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[参考译文] TMS320F2800157:符合 JESD22-A117标准的文档

Guru**** 2538950 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1346238/tms320f2800157-document-for-jesd22-a117-standard

器件型号:TMS320F2800157

尊敬的香槟:

我向客户提出这个问题。

现在、客户需要 ECT (耐用性循环测试)和 DR (数据保留) 认证文档、标准为 JESD22-A117。 我们是否可以拥有这样的文件?

更多 说明:

ECT 可评估非易失性存储器器件在多次读取和写入后的耐用性能。
DR 用于评估非易失性存储器器件的存储节点的电荷损耗

此致、

朱莉娅

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Julia、您好!

    我正在与我们的团队讨论为什么 TI.com 产品文件夹中没有显示该内容。 同时、我将 通过电子邮件向您私下发送此文档。

    此致、
    伊袋