[参考译文] TMS320F28379D：高电平比较器跳闸延迟

admin

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1359664/tms320f28379d-delay-in-tripping-of-high-comparator

器件型号：TMS320F28379D

我正在测试比较器子系统的跳闸以用于所有外设的诊断。这些测试只运行一次。我使用比较器1和6。两个比较器的正输入为 1.5V 、负输入时使用内部 DAC。当 DAC 为低电平时、我将使用比较器的反相信号输出。我正在初始化 CMPSS、然后运行以下测试。

设置 DAC 值以使 CMPSS 跳变

高侧的内部 DAC 值= 0.4*4096/3.3

低侧的内部 DAC 值= 1.7*4096/3.3

2.读取 CMPSS 的状态寄存器以查看跳闸状态。

我正在使用以下代码来检查跳闸所花费的时间。

CMPSS_setDACValueHigh (base、(0.4*4096/3.3))；

     GPIO_togglePin (19)；
     while (((HWREGH (base + CMPSS_O_COMPSTS))和0x0001)==0)
     {

     ｝
     GPIO_togglePin (19)；

从我的观察可以看出、高侧比较器跳闸时间为500 us、而低侧跳闸时间为1 us 以内。如果我多次运行同一个测试、通过重置 DAC 值并再次设置测试 DAC 值、高侧 DAC 在后续时间内在1us 内跳闸。仅在第一次测试期间,高侧 DAC 需要500us 跳闸。但对于低 DAC、情况并非如此。低 DAC 始终在1us 内跳闸。

为什么即使 DAC 值为0.4V 且输入为1.5V、高侧比较器跳变也有太多的延迟

1 年多前