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[参考译文] TMS320F28379D:安全诊断库

Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: C2000WARE

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1363134/tms320f28379d-safety-diagnostic-library

器件型号:TMS320F28379D
主题中讨论的其他器件:C2000WARE

您好

我使用 MCU 进行产品设计、输出格式为 eabi、并带有封装 C2000Ware 和 Digital Power SDK 5.0、1。

我们将通过链接 https://www.ti.com/tool/C2000-SAFETI-DIAGNOSTICS-LIB 使用 TI 安全诊断库、

我有几个问题

1.软件包为传统 COFF 输出格式。 eabi 中是否有任何封装?

2.包装是否通过 UL 认证?

3.请查阅随附的 UL 认证。 封装是否涵盖?e2e.ti.com/.../swaq003.pdf

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    1.我们还没有与较新的 C2000Ware 和 EABI 兼容的版本,但您应该可以移植它。 此页中有一些 关于从 COFF 迁移到 EABI 的提示、这些提示应该有助于汇编文件。 至于从1.00.01迁移到5.01.00、需要对代码进行一些更改。 我手头没有列表、但主要的是我记得 IPC 和 CAN 中断在 driverlib inc/hw_ints.h 中进行了重新编号、因此这些内容需要在代码中进行更新。

    2.和3. 否、此封装未经认证。 该 UL 证书适用于多个其他 C2000器件的自检库。 不过、F2837x 包确实包含合规性支持包以及可帮助您进行自己认证的文档。

    惠特尼

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    惠特尼

    我发现在 C:\ti\C2000Ware_1_00_01_00\libraries\diagnostic\f2837xd\examples 下有一个项目调用"f2837xd_diagnostic_LIBRARy"

    我做了一些如下步骤的实验

    将输出格式更改为 eabi

    添加预定义符号、如以下屏幕截图所示

    3.Compile "f2837xd_diagnostic_library"、没有错误并成功完成。

    4、将步骤3中编译的 SDL 库文件以及 从项目"f2837xd_test_application"和目录"C:\ti\C2000Ware_1_00_01_00\libraries\diagnostic\f2837xd\include"复制到应用程序项目中的所有 st*.h/stl*.h 文件

    5.编译我的应用程序没有问题。

    6. 在我的应用程序项目中添加一个函数 STA_Comm_TransmitData (STA_Tests_testDevice (STA_Tests_testArray[0]);以进行测试。 编译过程中有很多错误。 请查看随附的日志文件以供参考。

    请告知我的程序是否正确。 对我的 probleme2e.ti.com/.../Error.log 的任何建议

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    您能否为 SDL 导入测试应用程序并将其用作参考、以帮助确定您可能缺少哪些内容? 例如、我认为这些 EpwmxRegs 缺失、因为您的项目中没有 F2837xD_Headers_nonBIOS_cpu1.cmd 或 F2837xD_GlobalVariableDefs.c。 这些 SegxxLoadSize、等等... 出现错误可能是因为工程中没有 STA_F2837xD_FLASH_CPU1_CLASWBIST.cmd。

    _stack_end 和_stack 在 EABI 中有新名称。 您应该使用如下内容初始化 STL_SP 对象。

        STA_User_spObj.startAddress = (uint32_t)_symval(&__stack);
        STA_User_spObj.endAddress = (uint32_t)_symval(&__TI_STACK_END);

    惠特尼