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[参考译文] TMS320F280045:EMC RI 测试时复位引脚对 GND 短路

Guru**** 2779905 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1364614/tms320f280045-reset-pin-short-to-gnd-when-emc-ri-test

器件型号:TMS320F280045

在 EMC RI 测试期间、 在测试条件(-1200V、1000ns)下、辐射探头位于 TMS320F280045PZ 上方约1cm 的位置。 TMS320F280045PZS 的 RESET 引脚 对 GND 短路并损坏。 这一现象也可以重现。 您可以帮助查看此问题吗? 谢谢。

  e2e.ti.com/.../DRV500_5F00_MCU.pdf

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    Jon、

               基于 U26原理图(S-80928C)中的部件号 N MC)的情况下、似乎使用了该器件的开漏版本、这是正确的。 在这种情况下、R123是不必要的、并且会形成一个分压器。 根据该方案、对于活动状态和非活动状态、-XRS 引脚的电平可能不正确。 请使用示波器验证这一点。 现在、我并不是说这是您在-XRS 引脚中看到的漏洞的根本原因、但这是您绝对应该关注的问题。 仔细检查  您是否未使用此器件的 CMOS 输出版本。

    我在辐射抗扰度测试中看到了不同类型的软启动(器件复位、器件"挂起"、寄存器/位损坏)、但我在 RI 测试中没有遇到引脚损坏的情况。 如果降低噪声电压的幅度会发生什么情况? 您只会看到软错误吗? 是否存在可使引脚损坏的阈值电压?

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    Jon、

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