工具与软件：
您好！
我在 使用 德州仪器(TI) XDS100v2 USB 调试探针将程序刷写到我们的定制电路板(TMS320F2800137RHB)时遇到以下错误。
下面是10引脚接头和电路图。
此外、JTAG 连接测试如下：
[开始：德州仪器(TI) XDS100v2 USB 调试 Probe_0]
执行命令：
%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfile>-rv -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性
[结果]
--- [打印主板配置路径名]--------------------------------------------------------
C：\Users\Sohangm\AppData\Local\TEXASI~1\
ccs1210\0\0\BrdBat\testBoard.dat
--- [打印重置命令软件日志文件]--------------------------------------------------------
此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。
库构建日期为"STEP 20 2022"。
库构建时间为"12：28：44"。
库包版本为"9.9.0.0.00040"。
库组件版本为"35.35.35.5.0.0"。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
--- [打印重置命令硬件日志文件]--------------------------------------------------------
将通过切换 JTAG TRST 信号来复位扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
--- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]----
没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。
--- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
--- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------
此路径长度测试使用由64个32位字组成的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。
--- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]-------------------------------------------------------
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000内完成。
测试1字1：已扫描出0xFFFFFFFF、已扫描到0x00000000。
测试1字2：已扫描出0xFFFFFFFF、已扫描到0x00000000。
测试1字3：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字4：已扫描出0xFFFFFFFF、已扫描到0x00000000。
测试1字5：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字6：已扫描出0xFFFFFFFF、已扫描到0x00000000。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000内进行扫描。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
某些值被损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
上述错误和 JTAG 测试失败的可能原因是什么。
谢谢。此致
Sohan Gowda M.
