[参考译文] TMS320F280039C：通过边界扫描进行 ADC 测试、通过边界扫描进行 XTAL 测试

Joseph、您好！  

我实际上将电路中的 ADC 输入的值设置为2.5VDC、但 ADC 输入引脚绝不会在边界扫描时进入高电平状态。 我在引脚17、18和36上执行了这些测试。

在 XTAL 测试中、我们仅检查相关引脚在特定时间内振荡是否超过特定数值。 当 DSP 未编程或处于引导模式时、我可以成功地观察到这种情况。 我正以这种方式测试它、但我想更好地理解它。

尊敬的 Tugce：

让我来向设计团队了解一下边界扫描链上模拟引脚的实现情况。  我很确定 X1也不是扫描链的一部分、但正在与我们的设计团队确认。  希望我们的设计团队有几天的时间作出响应。

此致、

Joseph

你好、Joshua、  

是否有 设计团队的回应？  

尊敬的 Tugce：

很抱歉没有早点回到您的位置。  必须在边界扫描之外配置端口中的 ADC 引脚。  必须为相应的 AIO 或模拟输入引脚配置寄存器 GPxAMSEL (写入)。  在运行边界扫描之前、您将需要写入该寄存器以配置 AIO 功能。

此致、

Joseph

尊敬的 Joseph：  

是否有可能为该 DSP 创建一个 SVF 文件？  

尊敬的 Tugce：

遗憾的是、BSDL 是目前唯一受支持的格式。

此致、

Joseph

Joseph、您好！  

我知道、在边界扫描之外配置 ADC 引脚后、我将能够使用边界扫描读取这些引脚。 我的预期目标是将我在该引脚上看到的电压值解释为高电平或低电平。 我是否能够执行此操作、或者我是否应该独立于边界扫描来测试这些 ADC 通道？ 我的测试范围是捕获卡在0或卡在1的情况。

尊敬的 Tugce：

如果在边界扫描之前无法通过 GPxAMSEL 写入来将 ADC 引脚配置为输入、则必须单独测试 ADC 通道。

此致、

Joseph