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[参考译文] TMS320F28386D:包括错误测试在内的 PLL 功能性软件测试

Guru**** 2448780 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1419182/tms320f28386d-software-test-of-pll-functionality-including-error-tests

器件型号:TMS320F28386D

工具与软件:

从 F2838X 安全手册中介绍了 PLL 功能的软件测试(包括错误测试)。

我不知道 PLL 的故障注入是如何工作的。

它是否可以专家提供帮助、如何进行此错误测试或澄清什么是此错误测试、这是否意味着 PLL 功能的故障注入?

从初始阶段开始、就显示了 PLL 锁定到预期周期时使用计时器进行预处理。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    是否有 TI 专家可就此问题提供帮助?