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[参考译文] TMS320F28P650DK:ECC 问题

Guru**** 2562120 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28P650DK

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1419051/tms320f28p650dk-ecc-issue

器件型号:TMS320F28P650DK

工具与软件:

您好!

使用 TMS320F28P650DK 运行应用软件时、我遇到了 ECC 错误。

很遗憾、我无法使用仿真器进行调试、因为我在启动时使用 HWBIST、这会断开仿真器的连接。

启动时似乎出现问题。 如果我 在发生错误后清除该错误、它不再存在。

遗憾的是、添加用于调试或调试变量的部分代码后、问题可能消失

我能够将部分代码和调试变量添加到专用的闪存和 RAM 部分。

通过这个技巧、我添加了指令:

"MemCfg_getUncorrErrorAddress"

击穿。

返回值为0x910E

值始终相同。

奇怪的是、该问题与闪存的内容有关。

我有一个为校准数据保留的闪存区域。 该区域为0x90000至0x91FFF、当前它仅使用0x90000至0x90067范围内的区域。

该区域在启动时被读取并加载到 RAM 中(与  "MemCfg_getUncorrErrorAddress"返回的 RAM 部分不同)

但是这个区域在错误被置位前被加载(我已经在加载后添加了一个清除 ECC 错误的区域)

如果该区域发生故障、则不执行负载、也不存在问题。

将样本中的闪存内容加载到另一个样本中会得到相同的错误结果(因此单个 DSP 没有相关缺陷)。

以"MemCfg_getUncorrErrorAddress"返回的值是否可靠? 是否存在生成错误 ECC 的已知问题?

它是否与.cmd 文件去除相关? 它是否与 HWBIST (或 闪存/ RAM 上的其他诊断检查)相关?

您有没有找到该问题的建议?

是否能够滤除启动时的误差?

我要避免的是 ECC 错误再次出现。

非常感谢

Barbara

 

 

   

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!  

    我将在下周进行回顾。

    此致、

    Rajeshwary

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    大家好、本主题有任何新闻吗?