请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TMS320F28388D Thread 中讨论的其他器件： C2000WARE
工具与软件：
您好、 Whitney Dewey 和团队、
我们正在使用 C2000系列中的 TMS320F28388D 微控制器、并且已在 C28x CPU1和 CPU2上实现内置自检(BIST)功能。
我们参考了"C2000Ware_5_02_00_00\libraries\f2838x\examples\test_application"中的示例代码、并添加了对我们的应用中以下测试的支持：
- STA_HWBIST_MICRO
- STA_HWBIST_FULL
- STA_March
- STA_March_COPY
现在、我们还要将专门针对这些测试的内置自检(BIST)支持功能添加到连接管理器(CM)内核中。
是否可以在 CM 内核上执行相同的测试？ 如果需要、我们可以使用同一个库来实现吗？
谢谢、此致、
Vikram Tathe.
