This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMS320F280039C:关于 pbist 中 RAM 测试的一些问题

Guru**** 1831610 points
Other Parts Discussed in Thread: C2000WARE
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1430905/tms320f280039c-some-questions-about-ram-testing-in-pbist

器件型号:TMS320F280039C
Thread 中讨论的其他器件:C2000WARE

工具与软件:

文件路径:C:\ti\c2000\C2000Ware_5_01_00_00\libraries\boot_rom\f28003x\rev0\rom_sources\F28003x_rom\bootrom\include\cpu1brom_pbist。 h

 

问题1:存储器组的描述与 define 不一致。 存储器组18是 DCANRAM (两端口)、存储器组20是 mxDCANRAM (两端口)、但是定义中的18是 mxDCANRAMx、而20是 DCANRAM。 你可以看看图片。

 

问题2:存储器组17和存储器组19之间的关系是什么

 

问题3:描述 define PBIST_ALGO_M13N_SINGLE_PORT_SRAM 中的组17、18上的3月13日单端口。 单端口算法可用于测试双端口存储器、因此该测试应该没有问题。 define PBIST_ALGO_M13N_TWO_PORT_SRAM 中介绍了3月13日组19上的两个端口、但组19是单端口 SRAM。 这里似乎有一个问题。

 

问题4:为什么 PBIST 没有测试所有 RAM?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hengchen

    我认为一般而言、有一个混淆点是注释字段以 origin = 1至20开头;但实际#defines 开头为 origin = 0至19。  如果我们从注释"排序"中减去1、所有内容都应该保持一致。

    就使用注释编号的17和19 (以及18和20)而言、我认为这是同一个 RAM 实例、仅用于不同的测试模式。  我需要向代码作者询问正在运行的模式有什么不同、等等

    此致!

    Matthew

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Matthew

    谢谢!


    如果我从注释字段减去1、仍然是错误的、因为 denfin PBIST_algo 后面的注释仅是组1-19、根本没有组20。 我怀疑这部分的评论有问题、会误导我。


    是否有任何有关不同测试图形的信息?

    此致、

    Hengchen

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hengchen

    我可能需要到下周才能得到最终答案、我们的印度工程团队有国庆节、需要那里的帮助才能得到最终答案。

    Mattherw

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Mattherw、

    当然,很多 apperaciate , 祝最好的假期给他们!!

    此致、

    Hengchen

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Mattherw、

    有任何相关更新吗?

    此致、

    Hengchen

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    [报价 userid="599674" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1430905/tms320f280039c-some-questions-about-ram-testing-in-pbist "]

    问题1:存储器组的描述与 define 不一致。 存储器组18是 DCANRAM (两端口)、存储器组20是 mxDCANRAM (两端口)、但是定义中的18是 mxDCANRAMx、而20是 DCANRAM。 你可以看看图片。

     

    [报价]

    是的、这些注释不一致;但内存组17/19和18/20在左侧图像上是相同的。  右侧的图像告诉我们该组上运行的是什么测试模式;16/18是单端口 RAM (左图中为17/19)、而17/19是左侧的双端口 RAM (18/20)。  

    右侧的16组和17组不一定包含 RAM 块的内部名称(BRGA_)及其在 DS 中的别名、如 MX/LX/GX

    [报价 userid="599674" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1430905/tms320f280039c-some-questions-about-ram-testing-in-pbist "]

    问题2:存储器组17和存储器组19之间的关系是什么

     

    [报价]

    它们是相同的 RAM;但正在对其运行不同的 RAM 测试、因此创建了一个新组来区分该测试结果与另一个测试结果。  18和20也是相同的 RAM。  这两个模式为 March13n (一个访问每个字13次的匹配模式测试)、并寻找 RAM 中的静态缺陷、另一个称为"DOWN"、这是一个 TI 内部测试、旨在寻找 RAM 时序问题。

    [报价 userid="599674" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1430905/tms320f280039c-some-questions-about-ram-testing-in-pbist "]

    问题3:描述 define PBIST_ALGO_M13N_SINGLE_PORT_SRAM 中的组17、18上的3月13日单端口。 单端口算法可用于测试双端口存储器、因此该测试应该没有问题。 define PBIST_ALGO_M13N_TWO_PORT_SRAM 中介绍了3月13日组19上的两个端口、但组19是单端口 SRAM。 这里似乎有一个问题。

     

    [报价]

    我再次认为、这些评论并不反映正在测试的内容。  我可以生成一个错误以将其清除。  我相信#define 的命名惯例与此处的注释。

    [报价 userid="599674" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1430905/tms320f280039c-some-questions-about-ram-testing-in-pbist "]问题4:为什么 PBIST 没有测试所有 RAM?[/QUOT]

    我可以标识唯一未测试的 RAM 是 CLA 到 DMA 和 DMA 到 CLA 消息 RAM、每个消息 RAM 长度为128个字。  即使 C28x CPU 不能访问这些 RAM、我认为 PBIST 引擎应该是这样的。  我可以检查一下。

    此致!
    Matthew

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Matthew

    非常感谢、它会提供很多帮助。

    如果您对第4季度有任何答案、Thak、

    此致!

    Hengchen