工具与软件：
您好！
测试示例代码"adc_ex15_open_shorts_detection.c"后、我想了解有关以下主题的更多详细信息：
OP_01：osDetectStatusVal 在测试结束时可能为 ADC_OSDETECT_STATUS_UNFLETED (值16)、可能会被错误地视为良好/有效状态。
" 由于具有高驱动阻抗、S+H 持续时间 将远远长于 ADC 最小值。"
OP_02：这是为什么选择640ns 的采样窗口的原因吗？ 我想了解有关"高驱动阻抗"和"ADC 最小值"的更多详细信息？
OP_03：我想知道为什么"开路/短路检测"操作会执行7次。
OP_04：我想知道为什么选择 ADC_CLK_DIV_4_0。
OP_05：我想知道为什么选择 ADC_PULSE_END_OF_CONV。
ADC_enableConverter (adcBase)；
DEVICE_DELAY_US (1000)；
OP_06：我想知道为什么需要额外的延迟、因为先前的函数调用在采样之前会引入至少500us 的延迟：
此外、我们还需要了解不同通道上为什么会有不同的结果。 我们应该测试所有通道、还是足以测试一个通道(或数量有限)？
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有何影响 |
状态测试1 |
状态测试2 |
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注意：
状态= 1、表示引脚断开
STATUS =2、表示引脚短接至 VREFLO
状态= 4、表示引脚短接至 VREFHI
状态= 8、表示引脚处于正常/有效状态
STATUS = 0、表示引脚带有 ADC_OSDETECT_STATUS_UNFLAG -此处我使用的是0而不是16
