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[参考译文] TMS320F2800156-Q1:带有挂钩函数的闪存 ECC 自检失败

Guru**** 2195940 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1436451/tms320f2800156-q1-flash-ecc-self-test-failed-with-hook-function

器件型号:TMS320F2800156-Q1

工具与软件:

嗨、团队:

 我们需要  实现 闪存 ECC 自检、还需要 使用挂钩函数来实现 MPU。  以下是属性中挂钩函数的配置。

我们在 nmiISR 中清除不可纠正的错误状态(MemCfg_clearUncorrErrorStatus (MEMCFG_UCERR_CPUREAD))。  我们将 nmiISR 中断函数放置在 RAM 中。 在 MemCfg_clearUncorrErrorStatus 函数中执行 EALLOW 时、代码失控。 此处是代码在调试模式下失控的位置。 但它 通常在没有挂钩函数的情况下执行。 为什么?

BR

塞缪尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Samuel:

    Unknown 说:
    代码失控

    这话具体是什么意思? 在 ISR 中调用 EALLOW 后、它会直接跳转到 ESTOP0吗?

    RAM 中挂钩函数和 nmiISR 函数的顺序是什么?

    此致、

    Skyler

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    您好、Skyler:

    我们已经解决了与应用程序错误有关的问题。  

    我想我们可以结束该主题。

    /BR

    塞缪尔