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[参考译文] TMS320F2800156-Q1:有关 ECC 的问题

Guru**** 2224720 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1456341/tms320f2800156-q1-question-about-ecc

器件型号:TMS320F2800156-Q1

工具与软件:

尊敬的团队:

  我知道 ECC 数据中的 single-bit 错误属于可纠正的错误。 但我想知道它是如何发现 ECC 数据中发生的 single-bit 错误的。 它是否会   使用具有单位错误的 ECC 数据将正确的数据恢复为错误的数据

此致

塞缪尔

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    您好!

    我们的专家将于1月初离职。 请预计响应会延迟。

    此致、

    Ben Collier

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    尊敬的 Benjamin Collier:

     该问题的进展如何?

    此致

    塞缪尔

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    但我想知道它是如何发现 ECC 数据中发生的 single-bit 错误的

    ->是的、SECDED 逻辑使用64位对齐的地址和相应的64位数据以及8位 ECC 值来评估从闪存/OTP 读取的数据的正确性。

    它是否会   使用 具有单位错误的 ECC 数据将正确的数据恢复为错误的数据?

     ->不,它会将纠正的数据给 CPU ,但它不会纠正闪存中的错误。 如果必须纠正闪存中的错误、用户应用程序必须擦除并编辑闪存。

    此致、

    Rajeshwary

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    您好、 Rajeshwary:

     参考手册中提到了冗余 ECC 逻辑。 它只能在测试模式下工作、还是在测试模式和运行时模式下工作?

    -->它可以确定在输出比较器之后发生了什么类型的错误以及错误发生在哪里、右?

    例如:single-bit 错误/不可纠正的错误/数据中的 single-bit 错误/ ECC 数据中的 single-bit 错误...

    此致、

    塞缪尔

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    1.它也可以在测试模式和运行时模式下工作。

    2.是的,这是正确的。

    此致、

    Rajeshwary