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器件型号：TIDM-1000 工具与软件：
我目前正在运行构建3中的 TIDM-1000、并通过测试点 TP1到 TP6来探测控制卡生成的 PWM 信号。 我已经看到 PWM 信号彼此相移、我可以在代码中找到发生相移的地方、其中相位1是主器件、相位2和3根据它的 SYNC 信号相移。 但是、我还注意到 PWM 占空比会随时间变化。 在不改变输出电压或配置的任何其他部分的情况下、我在示波器上的后续捕获显示占空比发生变化、并且似乎遵循一种模式、其中占空比上升到98%、然后下降到大约2%、然后再次上升并重复。 探测测试点(如 TP1和 TP2)控制同一相位上的一对 FET)显示、两个 PWM 信号同时发生这种变化。 探测不同相位(例如 TP1至 TP3)的 FET 上的测试点可发现它们不会同时改变其占空比。
占空比随着时间的推移而发生这样的变化、原因是什么？
